Колонна предварительной обработки PREIC - C18: так называемое удаление матрицы образца означает, что интерференционные компоненты матрицы сохраняются на колонне предварительной обработки образца с использованием комбинации основного компонента образца и фиксированной фазы в колонне предварительной обработки образца, в то время как анализируемый материал не сохраняется непосредственно через колонну предварительной обработки образца для последующего анализа. Это устраняет помехи, мешающие измерению сосуществующих компонентов в матрице образца.
1.Колонна предварительной обработки Preic - C18Информация о заказах
| артикул | название | спецификация | использование |
| Анл Pre IC-H | HТип | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК | Удаление ионов щелочно - грунтовых металлов, ионов переходных металлов и ионов карбоната из матрицы образца также используется для нейтрализации сильнощелочности раствора образца |
| Анл Pre IC-Na | НаТип | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК | Удаление ионов переходных металлов и ионов щелочных металлов из проб. |
| Анл Pre IC-Ag | АгТип | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК | Удаление проб из раствора.Кл-АБр-АЯ...ААсО43-АКро42-АКН-АМоО42-АПО43-АСеО32-АSeCN-АСО32-АС2-АСКН-иВО42-Плазма. |
| Анл Pre IC-Ag/H | Ag/HСмешанная форма | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК |
| Анл Pre IC-Ag/Na | Аг/НаСмешанная форма | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК |
| Анл Pre IC-Ba | БаТип | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК | Удаление ионов корня серной кислоты из образцов. |
| Анл Pre IC-Ba/H | Ба/ХТип | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК |
| Анл Pre IC-Ba/Na | Ба/НаТип | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК |
| Анл Pre IC-RP | РПТип | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК | Удаление гидрофобных соединений, особенно ненасыщенных и ароматическихРНдиапазон0 - 14А. |
| Анл Pre IC-C18 | С18Тип | 1cc/2.5cc,50ветвь/ ПК | Удаление гидрофобных соединенийРНдиапазон2 - 8А. |
| Анл Pre IC-Ag/Ba/H | Аг/Ba/H | 2.5cc,50ветвь/ ПК | Удаление проб из раствора.Кл-АБр-АЯ...ААсО43-АКро42-АКН-АМоО42-АПО43-АСеО32-АSeCN-АСО32-АС2-АСКН-иВО42-иСО42- |
Колонна предварительной обработки Preic - C18Особенности:
