Сканирующий электронный микроскоп для анализа вольфрамовой проволоки в вакуумной среде Prisma & Prisma EX

Призма &Призма EXмногофункциональный электронный микроскоп

• Настоящий многоцелевой лабораторный сканирующий электронный микроскоп с полностью функциональным и простым в эксплуатации кабелем из вольфрама SEM
• Уникальный ESEM. ™ Режим вакуума окружающей среды
• Высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM ™ Экологический вакуум - три вакуумных режима, подходящих для анализа наиболее широкого спектра образцов, включая проводящие материалы, непроводящие материалы, дегазированные, не покрытые или другие образцы, которые не подходят для вакуума.
• Серия интегрированного программного обеспечения для анализа в реальном времени для выполнения динамического экспериментального анализа.
• Низкий вакуум и экологический вакуум ESEM позволяют проводить анализ непроводящих материалов и образцов, содержащих налоги
• Функция на месте позволяет даже изолированным или высокотемпературным образцам получать надежные результаты анализа.
• Поддерживая предварительные настройки перед сканированием, камеры с навигацией и SmartScanTM повышают эффективность работы, качество данных и отвечают более высоким требованиям к использованию.
• Анализ положения на месте при температуре от - 165 °C до 1400 °C
• Ускорительное напряжение: 200 В - 30 кВ
• Электронное увеличение: 6x - 100000x (позволяет одновременно собирать и отображать четыре изображения)
• Детектор: детектор вторичных электронов Everhart - Thomley в высоковакуумном режиме (E - T SED); Низкий вакуумный SE детектор (LVD); вторичный электронный детектор газа в вакуумном режиме окружающей среды ESEM (GESD); Инфракрасная камера CCD
• Вакуумная система: 1 турбомолекулярный насос 250L / s, 1 вращающийся механический насос; запатентованная вакуумная система перепада давления "через линзу"; Время выхлопа от 3,5 мин до высокого вакуума, от 4,5 мин до ESEM вакуума / низкого вакуума; Выберите холодную ловушку CryoCleaner; Альтернативное обновление до безмасляных прокруток / сухих PVP
• Камера образцов:

o Внутренний диаметр 340 мм

Аналитическая дистанция 10 мм.

Двенадцать интерфейсов приложений

o Угол сбора EDS: 35°

• Разрешение:

高真空模式

• 3,0 нм @ 30 кВ (SE)
• 4,0 нм @ 30 кВ (BSE)*
• 8,0 нм @ 3 кВ (SE)

Режим замедления в высоком вакууме

• 7,0 нм @ 3 кВ

Режим низкого вакуума

• 3,0 нм @ 30 кВ (SE)
• 4,0 нм @ 30 кВ (BSE)
• 10 нм @ 3 кВ (SE)

• Экологический вакуум ESEM
  • 3,0 нм @ 30 кВ (SE)