Добро пожаловать Клиент!

Членство

А

Помощь

А
& quot; Сайферт сайенс инструментал & quot; (Сучжоу) лтд. & quot;
ЮйЗаказчик производитель

Основные продукты:

химия17> >Продукты

Анализатор металлического состава ROHS

ДоговариваемыйОбновление на01/30
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения
Обзор
Анализатор металлического состава ROHS (SXES: Soft X - Ray Emission Spectrometer) обеспечивает высокое энергетическое разрешение, комбинируя недавно разработанную дифракционную решетку и высокочувствительную рентгеновскую камеру CCD. Как и EDS, он может быть обнаружен параллельно и может анализироваться с высоким энергетическим разрешением 0,3eV (эталон Al - L на краю Ферми), превосходящим энергетическое разрешение WDS.
Подробности о продукте

  Анализатор металлического состава ROHS(SXES: Soft X - Ray Emission Spectrometer) Высокое энергетическое разрешение достигается за счет комбинации недавно разработанных дифракционных растров и высокочувствительных рентгеновских CCD - камер.

Как и EDS, он может быть обнаружен параллельно и может анализироваться с высоким энергетическим разрешением 0,3eV (эталон Al - L на краю Ферми), превосходящим энергетическое разрешение WDS.

  Анализатор металлического состава ROHSОписание системы: Недавно разработанная спектроскопическая система позволяет получать спектрограммы различных энергий одновременно без перемещения дифракционной решетки или детектора (CCD). Кроме того, благодаря высокому разрешению энергии, можно собирать профили для анализа состояния.

p1001_sxes_cn_02-ctlg-1.jpg

Сравнение спектральных карт образцов нитрида титана в различных спектральных методах SXES, WDS и EDS

Даже при анализе WDS спектральные пики нитрида титана перекрываются и требуют математического подхода к свертыванию. Как показано на рисунке ниже, SXES имеет высокое энергетическое разрешение.

p1001_sxes_03.png

  Таблица сравнения

    характеристика ССЭС EPMA(WDS) ЭДС
    разрешение 0,3 ЭВ
    (Эль - Л на краю Ферми)
    8 ЭВ ( FWHM@Fe-K ) 120-130 ЭВ
    ( FWHM@Mn-K )
    Анализ состояния химической связи можно Можно (в основном легкие элементы) нельзя
    Параллельное обнаружение можно нельзя
    (Но спектрометрический диапазон достаточно)
    можно
    Спектральные кристаллы и детекторы Дифракционная решетка + CCD спектральный кристалл + пропорциональный счётчик SDD
    охлаждение детектора охлаждение Пельтье не нужно охлаждение Пельтье
    Предел обнаружения (в качестве исходного значения) 20 ppm 100 ppm 5000ppm

    Пример анализа литий - ионной вторичной батареи (LIB)

    Можно наблюдать зарядку LIB.

    p1001_sxes_cn_04.png



  Спектроскопия заполненных электрическим током образцов Li - K


p1001_sxes_cn_05.png

Пояснение: обнаружение оксида лития затруднено по теоретическим причинам

Примеры испытаний легких элементов

SXES Примеры испытаний углеродных соединений

Можно проверить различные алмазы, графит, полимеры.

p1001_sxes_cn_06.png

Примеры испытаний различных соединений азота азот также может анализировать состояние химической связи в зависимости от формы волны. Нитраты и нитриды имеют разные формы волн, а аммониевые соли, уязвимые для повреждения электронным пучком, также наблюдаются.

p1001_sxes_cn_07.png