комбинированная система рамана - атомно - силового микроскопа

Комфокальный микроспектрометр Рамана: основные характеристики: 1, чувствительность намного выше, чем другие аналогичные спектрометры Рамана, модульная конструкция, длина волны может быть произвольно выбрана, конфигурация гибкая, легко обновляется

Комфокальный микроспектрометр Рамана:
Основные особенности:
1, Чувствительность намного выше, чем другие аналогичные спектрометры Рамана, модульная конструкция, длина волны может быть произвольно выбрана, конфигурация гибкая, легко обновляется.
Все приводные компоненты управляются замкнутым контуром растровой линейки, точность и повторяемость прибора на порядок выше, чем у других аналогичных спектрометров.
Возможность непрерывного сканирования широкого спектра Рамана (запатентованного) за один раз без получения спектра и без использования растра с низким разрешением.
Новейшая микроконфокальная система, защищенная патентом, непрерывно регулирует конфокальную глубину и значительно улучшает световой поток и стабильность прибора.
Патентно защищенный раманский или флуоресцентный сигнал сразу же получает прямое изображение, быстро получая пространственное распределение материала.

Атомный микроскоп:
Основные особенности:
Bruker Dimension ® Icon ™ Атомно - силовой микроскоп представляет собой совершенно новый опыт применения AFM для исследователей в области нанотехнологий в промышленности и научных кругах с мощными испытательными функциями и простой в эксплуатации. Он по - прежнему основан на самой широко используемой в мире платформе AFM для больших образцов, объединяющей десятилетний технический опыт системы Dimension, обратную связь с широким кругом клиентов и всесторонние инновации в сочетании с потребностями оборудования в промышленном секторе. Новый дизайн системы, обеспечивающий беспрецедентно низкий дрейф и низкий уровень шума, теперь позволяет пользователям получать реальные и точные сканированные изображения всего за несколько минут.

Dimension ® Icon ™ Отличное разрешение изображения в сочетании с уникальным алгоритмом электронного сканирования Bruker значительно повышает скорость и качество измерений. Dimension ® Серия макроскопических платформ Атомно - силовой микроскоп всегда был лидером в отрасли, новейшим Dimension ® Icon ™ Это еще одно новшество в технологии сканирования наконечника иглы, оснащенной датчиком положения с температурной компенсацией, для достижения низкого уровня шума на субъединичном уровне оси Z и на уровне EP оси XY, который применяется к системе больших образцов в диапазоне сканирования 90 микрон, эффект даже лучше, чем уровень шума с открытым контуром AFM на небольшом стенде с высоким разрешением. Недавно спроектированные сканирующие головки с замкнутым контуром XYZ не повреждают качество изображения даже при работе с более высокой скоростью сканирования и обеспечивают больший объем сбора данных.


Комбинированная система & quot; Раман & quot; - атомно - силовой микроскопии:
Вы можете объединить возможности InVia Raman с сканирующей зондовой микроскопией (SPM и AFM) для изучения состава, структуры и характеристик материала в наномасштабе.

Преимущества совместной системы:
Измерения на месте. Нет необходимости перемещать образцы между различными приборами, экономить время и обеспечивать правильную область анализа.
InVia и SPM / AFM могут использоваться как автономные системы одновременно без ущерба для их производительности.
Получение обширной информации о образцах. Используется АФМ для регистрации формы образца и связанных с ним физических характеристик. Расширение возможностей Рамана по анализу химической информации образцов для идентификации материалов и неметаллических соединений.
Может быть реализована усиленная раманова мера кончика иглы (TERS) для получения химической информации нанометрового масштаба.

Выберите лучшую систему:
Специально разработанные гибкие соединительные рычаги Renishault могут использоваться для интеграции inVia с SPM или AFM - оптикой. InVia обладает большой гибкостью и может напрямую связывать его с различными AFM и SPM от следующих поставщиков: