Учебный сканирующий туннельный микроскоп

Name: Учебный сканирующий туннельный микроскоп
Brand: Suzhou Feishiman Precision Instrument Co., Ltd
Availability: InStock

ДоговариваемыйОбновление на01/12

Онлайн Консультация

Обзор

Учебный сканирующий туннельный микроскоп (FM - Nanoview T - STM), миниатюрный и съемный дизайн, очень удобный для переноски и обучения.

Особенности продукции:

♦Миниатюрный и съемный дизайн, очень удобный для переноски и обучения

♦боковая сторонаСистема наблюдения CCD, наблюдение в режиме реального времени за состоянием иглы зонда и область сканирования проб зонда

♦Головка обнаружения и сканер образцов интегрированы, структура очень стабильна, антиинтерференционная

♦Сейсмический режим с пружинной подвеской, простой и практичный, хороший сейсмический эффект

♦Одноосный приводной образец автоматически приближается к зонду вертикально, так что кончик иглы перпендикулярен сканированию образца

♦Интеллектуальный способ ввода, защита зондов и образцов для автоматического обнаружения пьезоэлектрической керамики с помощью двигателя

♦Интегрированный сканер нелинейный коррекция пользовательский редактор, нано - представление и точность измерения лучше, чем98%

Технические параметры:

Режим работы	Режим постоянного тока	Оптическое наблюдение	Увеличить в 1 - 500 раз
спектральная кривая тока	Кривая I - V, кривая тока - расстояния	Скорость сканирования	0,1 Гц ~ 62 Гц
XYДиапазон сканирования	10 × 10um	Угол сканирования	0 ~ 360°
ЗДиапазон сканирования	1ум	Оперативная среда	Операционные системы Windows XP / 7 / 8 / 10
Разрешение сканирования	горизонтальный0.05nm， Продольный 0,01 нм	Интерфейс связи	USB 2.0 / 3.0
Размер образца	Φ≤68мм, H≤20мм	Амортизационный режим	Пружинная подвеска
Пробный стол	15 х 15 мм

Похожий продукт рекомендовать