- Электронная почта
- Телефон
-
Адрес
中华人民共和国上海市虹口区宝山路778号
Nanoscope Systems lnc
中华人民共和国上海市虹口区宝山路778号
CTRM750 - это микроскоп, разработанный южнокорейской компанией Nanoscope Systems специально для полупроводниковых исследований. Модули с общей фокусировкой и тепловым отражением интегрированы, чтобы измерить фактическое распределение тепла на поверхности образца при измерении 3D - контура поверхности образца. Его модуль теплового отражения использует принцип теплового отражения, собирает значения яркости целевого образца с изменением температуры и использует функцию для получения коэффициента теплового отражения (Каппа), а коэффициент теплового отражения (Каппа) вводится в систему для измерения, чтобы получить фактическое значение температуры изображения теплового распределения целевого образца.
Features & Benefits (производительность и преимущества):
1. Оптические 3D - измерения без повреждений с высоким разрешением
2. Сфокусированное изображение в реальном времени
3. Многочисленный оптический зум
4. Автоматическая компенсация наклона
5. двухосное сканирование
6. Компактный размер модуля
7. Размещенные модули
8. простота в использовании
Основные функции:
Модуль с общей фокусировкой
1. 3D Контурное измерение
В режиме общей фокусировкиВ направлении ZДиапазон измерений позволяет получать высокочеткие 3D - контурные изображения поверхности образца и анализировать поверхность образца при различных температурах.Данные расширенияА.
2. Сфокусированное изображение в реальном времени
В режиме Live можно экспортировать образцы с общей фокусировкой видео в режиме реального времени.
Модуль формирования изображений с тепловым отражением
1. Синхронный
В режиме Synchronous этот метод позволяет получить изображение теплового отражения, которое соответствует периоду источника сигнала и последовательности измерений камеры.
2. Асинхронный
В режиме Asynchronous цикл генерации источника сигнала в этом режиме не связан с измерениями камеры. Измеренные таким образом изображения затем получают изображения распределения тепла через отдельный TRMeter.
TRViewer (Программное обеспечение):

Transient Thermal Imaging (Переходная визуализация)
Application field (Область применения):
Specifications (Параметры):
| модуль | |||||
| Объект | Увеличить | 5X | 10X | 20X | 50X |
| Расстояние работы | 34.0 | 33.5 | 20.0 | 13.0 | |
| НА | 0.14 | 0.28 | 0.42 | 0.55 | |
| Сфокусированный горизонт | Горизонтальная (um) | 2800 | 1400 | 700 | 280 |
| Вертикальная (um) | 2100 | 1050 | 525 | 210 | |
| область горизонта теплового отражения | Горизонтальная (um) | 1330 | 655 | 332 | 133 |
| Вертикальная (um) | 1330 | 655 | 332 | 133 | |
| Источник света (импульсный светодиод) | Базовая длина волны | 430,455,505,530,565,590, 617, 625, 660, 700, 730 nm (12 wavelength) | |||
| Выходная мощность | 120 ~ 3000 мВт (в зависимости от длины волны) | ||||
| Датчик изображения | Научный CMOS | ||||
| Активные пиксели изображения | 2048x2048 пикселей | ||||
| Активные термообразующие пиксели | 1024x1024 пикселей | ||||
| Пространственное разрешение (горизонтальное) | 0,5 мкм | ||||
| тепловое разрешение | 1°С | ||||
| Режим теплового отражения | Стабильное состояние (Асинхронный FFT, 4-ведро) Переходный | ||||
| Временное разрешение в переходном режиме | 50 НСС ~ 1 МСС | ||||
| Электрический нагревательный диск | Диапазон нагрева | РТ до 110°С | |||
| Скорость нагрева / охлаждения | · 2 мин. нагревать от RT до 90°C | ||||
| X, Y, Z - несущая станция | Диапазон маршрута: 18x18x14mm | ||||
| Электрический Z - несущий стол | Диапазон маршрута: 60 мм | ||||
| X, Y - станция для сканирования перемещения головки | Диапазон хода: 13x13mm | ||||
| ПК | напряжение | 100 to 240 VAC, 50/60 Hz | |||
| ток | 500 Вт Макс | ||||