прибор для обнаружения дефектов пленки

Контекст проекта
В качестве основной формы упаковочного материала пленка стала сырьем для промышленной продукции *. В процессе производства тонкой пленки, из - за производственного процесса и воздействия окружающей среды на месте, легко привести к появлению черных пятен, кристаллических точек, царапин, дыр, линий, складок, комаров и других дефектов на поверхности тонкой пленки. Эти дефекты не только влияют на внешний вид тонкопленочного продукта, но, что более важно, снижают эксплуатационные характеристики пленки. Как своевременно обнаруживать дефекты и дефекты на поверхности пленки в процессе производства, устранять коренные причины производства, осуществлять контроль и улучшать качество поверхности пленки, всегда была целью тонкопленочных предприятий.
Современное промышленное производство предъявляет все более высокие требования к качеству поверхности пленки, традиционные методы обнаружения, такие как ручная визуальная выборка, далеки от удовлетворения требований высокоскоростного, высокого разрешения и неразрушающего только обнаружения в современном промышленном производстве, система обнаружения дефектов поверхности пленки на основе CCD по сравнению с традиционным искусственным обнаружением невооруженным глазом, является быстрой и надежной. Точные преимущества в настоящее время используются многими тонкопленочными предприятиями.
принцип работы
При нормальном производстве производственной линии яркий светодиодный линейный концентрированный холодный источник света облучает поверхность производственной линии по принципу пропускания (принцип обнаружения отражения для непрозрачных тонкопленочных изделий), камера с линейной решеткой, установленная на производственной линии, синхронно сканируется в реальном времени, а изображение пленки, собранное камерой, обрабатывается системой разделения дефектов через блок обработки изображений SIMV.

Поскольку существует явная разница между серой ступенью изображения дефекта и серой ступенью нормального продукта, система может обнаружить дефект и в то же время эффективно определить и классифицировать дефект.

Техническая презентация
« Система обнаружения поверхности тонкой пленки» в основном используется для обнаружения черных пятен, кристаллических точек, царапин, дыр, линий, складок, москитов и других дефектов, возникающих на поверхности тонкой пленки в процессе производства, Благодаря системе формирования изображений, состоящей из промышленных CCD - камер, светящихся светодиодных линейных концентрированных источников света, своевременная и точная реакция на дефекты изображения, формы, размера и местоположения и другая конкретная информация, в то же время для контроля качества, рейтинг продукции предоставляет действительно точные данные, эффективно экономит затраты на производство, улучшает качество продукции.

Часто встречающиеся дефекты фото