Добро пожаловать Клиент!

Членство

А

Помощь

А
& quot; Дрейеко (Ланфанг) текнолоджи лтд. & quot;
ЮйЗаказчик производитель

Основные продукты:

химия17> >Продукты

Серия ксеноновых симуляторов стационарного солнечного света

ДоговариваемыйОбновление на02/09
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения
Обзор
Серия ксеноновых ламп для симуляторов стабильного солнечного света в основном оснащена системой управления источником света, системой управления питанием, системой тестирования, системой термостата, инфракрасным термометрическим зондом, эталонной батареей, компьютером, дисплеем и так далее.
Подробности о продукте

Симулятор стационарного солнечного света для ксеноновых ламп с большой излучающей поверхностью позволяет ксеноновым лампам использовать ксеноновые лампы в качестве стабильного источника света, который может быть протестирован IV на кристаллическом кремнии, перовските и слоистых батареях и их соответствующих компонентах. Оборудование в основном оснащено системой управления источником света, системой управления питанием, тестовой системой, системой постоянной температуры, инфракрасным термометрическим зондом, эталонной батареей, компьютером, дисплеем и так далее.

Основные параметры ксенонового симулятора стационарного солнечного света
1. Справочный стандарт: IEC60904 - 9: 2020.
2. Тип источника света. Устойчивый источник света ксеноновой лампы.
3.Способ охлаждения источника света: индивидуальное воздушное охлаждение.
4. Срок службы источника света: ≥1000h.
5. Спектральный диапазон: 300 - 1200нм.
6. Класс источника света: спектральное соответствие 0,875 - 1,125 A +; неравномерность облучения - - 1 процент A +; неустойчивость облучения - - 1 процент A +.
7. Диапазон облучения: 200 Вт / м2 ~ 1200 Вт / м2.
8. Испытательная площадь: 1200 * 600 мм; 2600 * 1400 мм; Можно настроить другие размеры.
Режим тестирования: Стационарный режим тестирования может свободно настраиваться от 1s до непрерывного освещения.
10. Технология тестирования: стандартный режим сканирования I - V, V - I, с Mppt (отслеживание точки максимальной мощности), I - t (фиксированное напряжение), динамический метод измерения и другие методы тестирования, в то же время интегрированный метод точечного сканирования (для удовлетворения кратчайшего метода сканирования 0,2 s), может быть переключен с помощью программного обеспечения.
11. Испытываемые батареи: обычные поликристаллические, Perc、Topcon、BC、 гетерогенные переходы, CIGS、GaAs、CdTe、 Перовскит, перовскит и т.д.
12. Дополнимый элемент: интегрированная система терморегулирования, обеспечивающая проверку температурного коэффициента; Интегрированная многоканальная система сбора (количество каналов может быть настроено).