Двойное зеркало Crossbeam 550 Samplefab

ДоговариваемыйОбновление на01/19

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Двухлучевое зеркало ZEISS Crossbeam 550 Samplefab - сфокусированный электронный микроскоп с ионно - лучевым сканированием (FIB - SEM), разработанный специально для подготовки образцов TEM в полупроводниковой промышленности, обеспечивает отличную гибкость, автоматизацию и удобный для пользователя дизайн, чтобы сделать подготовку образцов в полупроводниковой промышленности более простой и эффективной.

Подробности о продукте

двухлучевое зеркало ЧейзаКроссбем 550 Samplefab

[Описание продукта]

двухлучевое зеркало ЧейзаКроссбем 550 Samplefab，Будучи сфокусированным электронным микроскопом с ионно - лучевым сканированием (FIB - SEM), разработанным специально для подготовки образцов TEM в полупроводниковой промышленности, он обеспечивает отличную гибкость, автоматизацию и удобный для пользователя дизайн, чтобы помочь полупроводниковой промышленности сделать подготовку образцов более простой и эффективной.

[Характеристики продукта]

л Стандартный отраслевой программный интерфейс

л Оптимизация конфигурации для повышения стабильности оборудования и программного обеспечения

л полностью автоматическийТЕМОпыт подготовки образцов

л Место (in-situ, подъем& Не на месте (ex-situ, подбор) Гибкость доступна

л Высококачественные автоматические и ручные образцы

[область применения]

Электронная и полупроводниковая промышленность, анализ отказов иТЕМПодготовка образцов.

[Прикладные случаи]

图片5.png 图片4.png