-
Электронная почта
bjcaring@163.com
-
Телефон
13910478680
-
Адрес
Дом № 8, дом 1, 11 - й этаж, 1111.
Категории продукта
Пекинская научно - техническая компания & lt; & lt; Кэри Юн & gt; & gt;
система фотоэлектрического микроскопа Цейсса
ДоговариваемыйОбновление на02/03
- Модель
- Природа производителя
- Производители
- Категория продукта
- Место происхождения
Обзор
Фотоэлектрическая система сетевого микроскопа ZEISS сочетает в себе оптическую микроскопию и электронную микроскопию, что позволяет пользователям получать изображения с высоким разрешением и проводить углубленный анализ на одной платформе.
Подробности о продукте
система фотоэлектрического микроскопа ЦейссаСочетание технологии оптической и электронной микроскопии позволяет пользователям получать изображения с высоким разрешением и проводить углубленный анализ на одной платформе. Преимущества такой системы включают:
Предварительные наблюдения и сканирование с помощью оптического микроскопа, а затем детальный анализ с более высоким разрешением с использованием электронного микроскопа.
В сочетании с различными микроскопическими методами можно наблюдать образцы в разных масштабах, обеспечивая более полный анализ.
Система способна интегрировать данные оптического и электронного микроскопа, облегчая комплексный анализ образцов.
Технические преимущества ZAIS Gemini помогут вам:
Калиброванный цилиндр имеет долгосрочную стабильность, вам нужно просто установить основные параметры при ежедневном использовании, такие как ускоряющее напряжение, ток зонда и т. Д.
Конструкция объектива без утечки, позволяющая визуализировать различные типы образцов, включая магнитные образцы, без искажений и с высоким разрешением;
Вторичный электронный детектор Inlens обладает высокой эффективностью сбора сигналов SE1, что позволяет получать реальные изображения с полярной поверхности образца;
Детектор обратного рассеяния с фильтрацией энергии в зеркале с его инновационной концепцией дизайна позволяет получать изображения с высоким разрешением, высокой контрастностью и более реалистичной футеровкой материала образца при низком напряжении.
Предварительные наблюдения и сканирование с помощью оптического микроскопа, а затем детальный анализ с более высоким разрешением с использованием электронного микроскопа.
В сочетании с различными микроскопическими методами можно наблюдать образцы в разных масштабах, обеспечивая более полный анализ.
Система способна интегрировать данные оптического и электронного микроскопа, облегчая комплексный анализ образцов.
Технические преимущества ZAIS Gemini помогут вам:
Калиброванный цилиндр имеет долгосрочную стабильность, вам нужно просто установить основные параметры при ежедневном использовании, такие как ускоряющее напряжение, ток зонда и т. Д.
Конструкция объектива без утечки, позволяющая визуализировать различные типы образцов, включая магнитные образцы, без искажений и с высоким разрешением;
Вторичный электронный детектор Inlens обладает высокой эффективностью сбора сигналов SE1, что позволяет получать реальные изображения с полярной поверхности образца;
Детектор обратного рассеяния с фильтрацией энергии в зеркале с его инновационной концепцией дизайна позволяет получать изображения с высоким разрешением, высокой контрастностью и более реалистичной футеровкой материала образца при низком напряжении.
