-
Электронная почта
bjcaring@163.com
-
Телефон
13910478680
-
Адрес
Дом № 8, дом 1, 11 - й этаж, 1111.
Категории продукта
Пекинская научно - техническая компания & lt; & lt; Кэри Юн & gt; & gt;
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой Цейсса
ДоговариваемыйОбновление на02/03
- Модель
- Природа производителя
- Производители
- Категория продукта
- Место происхождения
Обзор
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой - это электронный микроскоп с высоким разрешением, предназначенный для наблюдения за тонкими структурами. Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой обычно относится к сканирующей электронной микроскопии (SEM) или просвечивающей электронной микроскопии (TEM), которая использует вольфрамовую проволоку в качестве источника электронов.
Подробности о продукте
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой ЦейссаЭто электронный микроскоп с высоким разрешением, предназначенный для наблюдения за тонкими структурами. Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой обычно относится к сканирующей электронной микроскопии (SEM) или просвечивающей электронной микроскопии (TEM), которая использует вольфрамовую проволоку в качестве источника электронов. Как производитель микроскопов, ZEISS имеет множество передовых характеристик своего электронного микроскопа с вольфрамовой проволокой. Вот некоторые ключевые моменты:
1. Электронный источник вольфрамовой проволоки
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой использует вольфрамовую проволоку в качестве источника излучения электронов. Вольфрамовая проволока может излучать электроны высокой энергии при высоком напряжении, которые используются для сканирования поверхности образца или проникновения образца для получения изображения.
2. Высокое разрешение
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой может обеспечить высокое разрешение до наноуровня. Это позволяет им наблюдать тонкие структуры внутри клеток, наноматериалы, микродефекты и так далее.
3. Модель изображения
Сканирующий электронный микроскоп (SEM): трехмерное изображение поверхности образца создается путем сканирования поверхности образца и обнаружения отраженных электронов. Применяется для наблюдения за внешним видом и поверхностными характеристиками образца.
Проницательный электронный микроскоп (TEM): электронный луч проникает в образец и формирует изображение через структуру внутри образца. Применяется для наблюдения внутренней структуры образца, такой как кристаллическая структура клеточного аппарата и материала.
Технические преимущества ZEIS
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой Цейсса может включать следующие технические характеристики:
Высокая стабильность и высокое качество электронных лучей: обеспечение качества и разрешения изображения.
Усовершенствованные технологии обработки образцов и визуализации: например, автоматическая фокусировка, программное обеспечение для сбора изображений и функции анализа изображений.
Несколько моделей наблюдения за образцами: поддержка различных методов наблюдения и анализа, таких как электронное изображение обратного рассеяния, вторичное электронное изображение и т. Д.
1. Электронный источник вольфрамовой проволоки
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой использует вольфрамовую проволоку в качестве источника излучения электронов. Вольфрамовая проволока может излучать электроны высокой энергии при высоком напряжении, которые используются для сканирования поверхности образца или проникновения образца для получения изображения.
2. Высокое разрешение
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой может обеспечить высокое разрешение до наноуровня. Это позволяет им наблюдать тонкие структуры внутри клеток, наноматериалы, микродефекты и так далее.
3. Модель изображения
Сканирующий электронный микроскоп (SEM): трехмерное изображение поверхности образца создается путем сканирования поверхности образца и обнаружения отраженных электронов. Применяется для наблюдения за внешним видом и поверхностными характеристиками образца.
Проницательный электронный микроскоп (TEM): электронный луч проникает в образец и формирует изображение через структуру внутри образца. Применяется для наблюдения внутренней структуры образца, такой как кристаллическая структура клеточного аппарата и материала.
Технические преимущества ZEIS
Электронный микроскоп с вольфрамовой проволокой Цейсса может включать следующие технические характеристики:
Высокая стабильность и высокое качество электронных лучей: обеспечение качества и разрешения изображения.
Усовершенствованные технологии обработки образцов и визуализации: например, автоматическая фокусировка, программное обеспечение для сбора изображений и функции анализа изображений.
Несколько моделей наблюдения за образцами: поддержка различных методов наблюдения и анализа, таких как электронное изображение обратного рассеяния, вторичное электронное изображение и т. Д.
