Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп позволяет получать изображения поверхности с высоким разрешением.

О нас

Hangzhou Grampa Technology Co., Ltd

Электронная почта
xusan@hzglp.com
Телефон
13575736133
Адрес
3778 Jiangnan Avenue, район Биньцзян, Ханчжоу

Дата:2025-06-15Читать:0

Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп - это инструмент для анализа поверхности с высоким разрешением, который сочетает в себе технологию сканирующей зондовой микроскопии (SPM) и множество других функций. Он имеет сверхвысокое пространственное разрешение, может обнаруживать форму поверхности и локальные физические и химические свойства в наномасштабе, в то же время имеет множество режимов измерения, подходящих для исследований во многих областях, таких как физика, химия и биология. Преимущество заключается в том, что он не только обеспечивает визуализацию поверхности традиционного сканирующего зондового микроскопа, но и проводит многофункциональные испытания с точки зрения атомной силовой микроскопии (AFM), сканирующей туннельной микроскопии (STM), тока, магнетизма, теплопроводности и т. Д.

　　многофункциональный сканирующий зондовый микроскопОсновные компоненты:

Сканирующий зонд: зонд является основным компонентом сканирующего зондового микроскопа. Он обычно состоит из очень острых металлических или керамических материалов, радиус которых может достигать наноуровня. Форма зонда, размер кончика, материал и другие факторы влияют на точность и качество измерения.

Сканирующая платформа: Сканирующая платформа является частью, поддерживающей образец и способной обеспечить движение с трехмерной микроточностью. Платформа, как правило, управляется высокоточным двигателем, способным обеспечить небольшое смещение образца в направлении X, Y и Z для сканирования всей поверхности образца.

3. Лазерная система отражения: в режиме AFM лазерный луч может точно измерять небольшие изменения смещения зонда через зеркало, отраженное на зонде, что позволяет получать информацию о высоте поверхности образца.

Контроллер и система сбора данных: система управления регулирует параметры сканирования (например, скорость сканирования, расстояние между зондом и образцом и т.д.), а также обрабатывает и анализирует собранные данные. Системы сбора данных обычно объединяют высокочувствительные усилители и цифровые приборы для преобразования информации о взаимодействии зонда с образцом в сигнал, который может быть идентифицирован компьютером.

5.Функциональные модули: Специальные функциональные модули включают измерительные модули, такие как электротехника, магнетизм, термология. Эти модули могут быть установлены в микроскопических системах для переключения и тестирования различных режимов измерения.

Основные функции многофункционального сканирующего зондового микроскопа:

1. Физико - морфологические измерения поверхности: способны обеспечивать изображение поверхности с высоким разрешением, раскрывая микроструктуру поверхности. В режиме AFM можно получить трехмерные изображения формы поверхности с разрешением до субнанометрового уровня.

Локальное измерение силы: в режиме AFM взаимодействие между кончиком зонда и поверхностью образца влияет на движение зонда, и изменение силы измеряется с помощью системы управления обратной связью. Через кривую силы - расстояния можно получить механические свойства, такие как модуль упругости образца, сила сцепления и т.д.

3. Электрические и магнитные измерения: могут быть проведены измерения электрических свойств, таких как местный ток, потенциал, местная проводимость. В режиме STM можно получить информацию об электронной структуре поверхности образца; Магнитные модели измерения позволяют выявить локальные магнитные структуры материала, такие как распределение и взаимодействие магнитных частиц.

Теплопроводность и теплопроводность: тепловая проводимость материала может быть оценена путем измерения термоэлектрического эффекта. Различия в теплопроводности различных материалов имеют большое значение в наномасштабе, особенно в области нанотехнологий, где точные измерения тепловых свойств могут направлять проектирование и применение новых материалов.

5. Анализ химического состава: в сочетании с другими методами (например, сканирующей электрохимической микроскопией (SECM)) можно проводить анализ химического состава поверхности и контролировать процесс химической реакции образца с помощью локальных электрохимических реакций.

Последняя статья:Как можно настроить атомный микроскоп

Следующая статья:Технические характеристики и преимущества компактного атомного микроскопа