Полный спектральный масс - спектрометр ICPОбычно это относится к масс - спектру плазмы с индуктивной связью во времени полета, который представляет собой высокопроизводительную технологию анализа элементов, основанную на анализаторе качества времени полета.
Принцип работы:
1. Ионизация образца: образец попадает в высокотемпературную плазму через распылитель, быстро испаряется, атомизируется и ионизируется в условиях высокой температуры, образуя большое количество ионов.
Извлечение и разделение ионов: ионизированные ионы извлекаются через конус интерфейса в вакуумную систему и попадают в анализатор качества времени полета.
3. разделение и обнаружение массы: ионы после ускорения электрического поля с той же кинетической энергией в трубку бесполевого дрейфа, малое время полета иона, большое время полета. Благодаря обнаружению различий во времени полета для достижения разделения массы один импульс может захватывать ионные сигналы в полном диапазоне массы.
4. Обработка данных: Высокоскоростные цифровые преобразователи регистрируют время прибытия всех ионов и преобразуют время в отношение массы к грузу (m / z) в сочетании с калибровочной кривой для получения полной масс - спектрометрии.
Полный спектральный масс - спектрометр ICPПреимущества:
Полный спектральный синхронный сбор: один импульс может захватывать ионные сигналы в полном диапазоне массы, избегая временной задержки сканирования квадрупольного стержня и значительно повышая эффективность анализа.
Высокая чувствительность: способность обнаруживать элементы с низкой концентрацией, предел обнаружения может достигать накг. на мл или ниже.
Широкий динамический диапазон: линейный диапазон может достигать нескольких порядков величин и подходит для одновременного измерения нескольких элементов, включая элементы высокой и низкой концентрации.
Низкие помехи и низкий фон: Эффективное снижение воздействия помех и фоновых сигналов за счет тщательного проектирования и оптимизации структуры прибора, а также использования хорошей технологии коррекции помех.
Многоэлементный одновременный анализ: можно одновременно анализировать несколько элементов, измеримая ширина поверхности элемента.