Мы тепло поздравляем наш отдел с успешным завершением проекта по усовершенствованию прибора для испытания кристаллических колебаний пластыря 32.768 кГц! Этот результат олицетворяет мудрость и пот всей команды R & D и знаменует собой новый прорыв в области технологии обнаружения кристаллических колебаний. Это улучшение значительно повышает точность и эффективность тестирования, вводит более сильный импульс в контроль качества продукции, с нетерпением ожидая продолжения совместной работы в будущем, чтобы подняться на более высокие технологические вершины!

После этого технического обновления эти 32.768 КГц кристаллических вибраций ниже могут быть быстро протестированы, что эффективно повышает эффективность тестирования.

изображение	тип	модель	Размер упаковки	частота	Напряжение / нагрузка	Частотная аберрация	рабочая температура	Образец заявки	ПДФ
	32.768 КГц - тактовые колебания SMD2012	H21	2.0x1.2x0.6мм	32,768 кГц	12.5pF или специфический	±10ppm или специфический	-40℃~+85℃ или специф		просматривать
	32.768 КГц - тактовые колебания SMD3215	H31	3.2x1.5x0.75мм	32,768 кГц	12.5pF или специфический	±10ppm или специфический	-40℃~+85℃ или специф		просматривать
	32.768 КГц - тактовые колебания SMD7015	Г146	7,0 х 1,5 мм	32,768 кГц	12.5pF или специфический	±10ppm или специфический	-40℃~+85℃ или специф		просматривать
	32.768 КГц тактовые колебания SMD8038	Г306	8.0x3.8x2.54мм	32,768 кГц	12.5pF или специфический	±10ppm или специфический	-40℃~+85℃ или специф		просматривать
	32,768 кГц 圆柱晶振 2*6	Y26	2,0 х 6,0 мм	32,768 кГц	12.5pF или специфический	±10ppm или специфический	-20℃~+70℃ или специф		просматривать
	32,768 кГц 圆柱晶振 3*8	Y38	3,0 х 8,0 мм	32,768 кГц	12.5pF или специфический	±10ppm или специфический	-20℃~+70℃ или специф		просматривать