Сучжоу Цзясу

Высокоточный рентгеновский флуоресцентный анализатор / передовые технологии Инновационные предприятия

Чувствительные и высоконадежные решения для анализа микроэлементов. У компании есть портативные, портативные, лабораторные и онлайн - платформы для четырех продуктов и технологий, которые в основном используются в таких областях, как литий - электрические материалы для новых источников энергии, исследование почв, мониторинг качества воды, скрининг обработки сельскохозяйственной продукции, мониторинг безопасности пищевых продуктов и промышленный онлайн - мониторинг.

Д - р Чэнь Зеву, основатель Suzhou Jiazhou Technology Co., Ltd. с момента изобретения высокоэффективного гиперболического изгиба в 1998 году, приобрел технологии в Китае, США, Японии и ЕС соответственно. Д - р Чэнь Зеву руководил работой своей команды по широкому применению гиперболических изогнутых кристаллов в рентгеновском флуоресцентном спектрометре, изобретая два технологических маршрута XRF MWDXRF и HPXRF и их серию продуктов; Высокоспециальный высокоточный рентгеновский детектор флуоресцентных элементов использует технологию гиперболической кристаллической монохроматической фокусировки HDXRF для достижения точного анализа рентгеновского флуоресцентного спектрометра при обнаружении элементов.

Высокоточный рентгеновский анализатор флуоресцентных элементов (HPXRF)

Дифференциация энергии с монохроматической фокусировкой XRF

Принцип работы: Рентгеновская трубка излучает рентгеновские лучи, монохроматизирует рентгеновскую флуоресценцию после гиперболического изгиба DCC, а затем фокусируется на тестируемом образце, который производит вторичную характерную рентгеновскую флуоресценцию. Из - за усиления энергии рентгеновской флуоресценции после монохроматической фокусировки и отсутствия помех от помех света, рентгеновская флуоресценция, характерная для каждого элемента, создаваемого образцом, рассчитывается с помощью сигнала детектора, что приводит к отличным ограничениям обнаружения и высокоточным количественным результатам;

При количественном построении матрицы каждого образца можно использовать метод основных параметров FP или метод калибровки эмпирических коэффициентов.