Использование технологии iDPC - STEM для получения истинных изображений атомного уровня молекулярного статического и динамического механического поведения в MOF

О нас

Thermo Fisher Electron Microscope

Электронная почта
esther.he@thermofisher.com
Телефон
15801310649
Адрес

Дата:2025-11-21Читать:1

Благодаря своей уникальной способности к реальному пространственному анализу технология получения изображений в реальном пространстве может непосредственно наблюдать атомную планировку поверхности материала, структуру интерфейса и различные дефекты решетки для достижения точного анализа локальной структуры, что может помочь нам понять физико - химические свойства молекул материала на атомном уровне. Это преимущество не может быть заменено технологией обратной пространственной дифракции. Однако, поскольку сложные пористые материалы, такие как цеолит, металлическая органическая рама (MOF) и другие, являются типичными чувствительными к электронному лучу материалами, их микрокаркасная структура чрезвычайно подвержена необратимым повреждениям, таким как коллапс и аморфизация при облучении высокоэнергетическим электронным лучом, что предъявляет строгие требования к изучению поведения и взаимодействия молекул на атомном уровне с использованием электронной микрометрии.

Исследовательская группа профессора Шен Боюаня Сучжоуского университета и ее сотрудники визуализировали и проанализировали кристаллическую решетку UiO - 66 (типичная структура MOF) с помощью технологии интегральной дифференциальной фазовой футеровки (iDPC - STEM), чтобы проверить эффективность iDPC - STEM для молекулярной визуализации в электронных чувствительных материалах, а такжеРеальное пространствоПреимущества визуализации в изучении молекулярного поведения и взаимодействия. Исходя из этого, был разработан реальный пространственный подход к изучению анализа и поведенческих исследований органической молекулярной структуры с использованием структуры пределов скелета, что открыло новые возможности для изучения электрической визуализации органических молекул.

Мы являемся одной из немногих исследовательских групп в области электронной микроскопии во всем мире, которые занимаются изучением мелких органических молекулярных структур. Из - за чрезвычайно чувствительных свойств органических молекулярных структур к электронным лучам, электронная микроскопическая визуализация реального пространства вряд ли может быть применена к изучению таких органических систем. Распространение ряда технологий получения изображений в низких дозах, представленных iDPC - STEM в последние годы, дает надежду на это направление исследований. Мы занимаемся исследованиями изображений iDPC - STEM для электронных чувствительных материалов с 2018 года в молекулярном сите, MOF、 Был достигнут ряд успехов в таких системах, как перовскит. В этой статье мы также используем эту технологию для достижения истинной атомной визуализации органических молекулярных элементов в структуре MOF и даже можем изучать статические и динамические изменения химических связей в разных состояниях, применяя технологию зеркал с низкой дозой в реальных пространственных молекулярных изображениях.

Профессор Шен Боуэн.

Сучжоуский университет

Они используют Thermo Scientific ™ Titan Cubed Themis G2 300Электронный микроскоп с сферической коррекциейНизкие дозы iDPC - STEM впервые проанализировали атомную структуру ограниченной молекулы бензофталата в UiO - 66 в квазистатическом состоянии и выявили ее молекулярную статику и динамическое поведение в реальном пространстве во время растяжения и сжатия. Эти результаты идеально поддерживают симуляцию принципа первичности, показывая упругие деформации координационных клавиш и C₆Кольцо вибрирует. Исследование не только предлагает эффективную стратегию для молекулярной статической и динамической визуализации в атомном управлении и сетчатой химии, но и открывает новые пути для изучения поведения и взаимодействий других молекул в ограниченных состояниях и даже физико - химических свойств с новой точки зрения атомных и химических связей. Соответствующие результаты вФизические письма обзора"Опубликовано в журнале (Phys. Rev. Lett. 135, 183001.).

Фис. Преподобный Летт. 135, 183001. DOI: 10.1103/sd72-g4t8

Время выплаты пособий

Добро пожаловать в команду Саммерфи, чтобы получить полную техническую информацию.- Через Саймера.Подтверждение продавцомКлиенты, нуждающиеся в эффективных закупках, получатПистолет для миофасциального релизаодна

Последняя статья:Рентгеновский фотоэлектронный спектр раскрывает структурные тайны материала для двухсторонних пороговых переключателей Ge - SE

Следующая статья:Основные принципы и применение линз fei