Атомно - силовой микроскоп / сканирующий зондовый микроскоп

ДоговариваемыйОбновление на07/24

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Атомно - силовой микроскоп / сканирующий зондовый микроскоп

Подробности о продукте

атомно - силовой микроскоп с высоким разрешением

Обзор продукции
Примеры образцов наблюдения в воздухе
Примеры образцов, наблюдаемых в жидкостях
Примеры наблюдений за структурой гидрорастворителя
принцип атомно - силового микроскопа
Параметры производительности

Наблюдение за живым наномиром

Новейший атомно - силовой микроскоп HR - SPM с высоким разрешением, использующий FM - режим, не только обеспечивает сверхвысокое разрешение в воздушной и жидкой среде, но и впервые наблюдает расслоение жидкости гидролизом / растворителем на твердой поверхности.

HR - SPM: атомно - силовой микроскоп с высоким разрешением

Особенности HR - SPM

Использовать режим FM
Шум в воздухе и жидкостях снижается в 20 раз по сравнению с традиционными моделями.
Разрешение сверхвысокого вакуумного атомного микроскопа также может быть достигнуто в воздушной и жидкой среде

Существующие сканирующие зондовые микроскопы (scanning probe microscopes) и атомные силовые микроскопы (atomic force microscopes) обычно используют амплитудно - модулированный режим (amplitude modulation).

SPM	А.	Сканирующий зондовый микроскоп
AFM	А.	Атомно - силовой микроскоп
AM	А.	Модель амплитудной модуляции
FM	А.	Режим частотной модуляции

Отличия от существующих SPM / AFM

Наблюдение за атомным разрешением в жидкой среде

Наблюдается расположение атомов на твердой поверхности в насыщенном растворе NaCl. Используя традиционный атомно - силовой микроскоп в амплитудно - модулированном режиме, изображение полностью покрыто шумом (рисунок слева), но в FM - режиме расположение атомов хорошо видно (рисунок справа). Режим FM обеспечивает истинное разрешение атомного уровня.

Наблюдение частиц катализатора Pt в воздухе 1)

KPFM - сканирующий микроскоп Кельвина

Частицы Pt на базе TiO2 измеряются поверхностным потенциалом с помощью KPFM, а каталитические частицы на базе TiO2 могут быть четко идентифицированы. В то же время можно наблюдать обмен зарядами между частицами Pt размером в несколько нанометров и базовыми пластинами. На правом рисунке красная область является положительным потенциалом, а голубая область - отрицательным потенциалом. Для наблюдений PKFM режим FM также значительно улучшил разрешение.

Примечание: KPFM требует определенной базы данных.

Цитируемая литература:

Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).

Похожий продукт рекомендовать