Идите! Инфракрасные объективы LCPLN50XIR и 100XIR

Идите! Инфракрасные объективы LCPLN50XIR и 100XIR

Идите! Инфракрасные объективы LCPLN50XIR и 100XIR

инфракрасный объектив Олимпа

5X / 10X / 20X / 50XIR Инфракрасные объективы

Для промышленности

Металлургия, полупроводники, авиация и другие области

Olympus LCPLN50XIR и LCPLN100XIR - это микроскопические объективы, предназначенные для спектральных наблюдений в ближней инфракрасной области спектра (NIR), которые в основном используются в таких областях, как полупроводники, электроника и промышленная металлургия, для неразрушающего обнаружения внутренней структуры кремниевых кристаллов, чипов IC и других материалов. 34

АОсновные технические и проектные характеристикиА

00001. ‌Возможности наблюдения в ближней инфракрасной области спектра‌: Оба объектива оптимизированы для ближнего инфракрасного света с длиной волны 700 - 1300 нм, имеют высокую скорость пропускания, могут проникать в кремний и другие материалы для достижения неразрушающего наблюдения внутренней структуры кристаллической окружности, соединительных линий или дефектов. ‌ 38

00002. ‌Регулируемое корректирующее кольцо‌ Это основная особенность серии LCPLN - IR. Объект оснащен корректирующим кольцом, которое корректирует сферическую разность покрытий различной толщины (например, стеклянной крышки или кремниевого слоя), поддерживая высокое разрешение и контрастность при наблюдении за различными образцами. 34

·Диапазон коррекции толщины стекла‌： 0 - 1.2mm（50X）； 0 - 0.7mm（100X）。 ‌34

·диапазон коррекции толщины кремния‌： 0 - 1.2mm（50X）； 0 - 1.0mm（100X）。 ‌34

00003. ‌бесконечно дальняя оптическая система‌: Оптическая конструкция с бесконечной дальней коррекцией, совместимая со стандартным бесконечным микроскопическим световым маршрутом. 12

00004. ‌Сравнение основных оптических параметровА

АII. Преимущества примененияА

00001. ‌Повышение точности обнаружения• Высокая числовая апертура в сочетании с функцией коррекции аберрации обеспечивает высокое разрешение и контраст изображений в ближнем инфракрасном диапазоне, четко раскрывая микродетали внутри материала. ‌ 89

00002. ‌Повышение адаптивности• Конструкция корректирующего кольца позволяет одному и тому же объективу приспосабливаться к кристаллическим кругам с различными технологическими процессами или образцам с различными слоями упаковки толщины, что позволяет получить четкое изображение без замены объектива и повышает эффективность и гибкость обнаружения. ‌ 38

00003. ‌Поддержка изображений‌ Оба объектива поддерживают наблюдения отражения и пропускания в открытом поле, а также поляризованного света. 210

00004. ‌Совместимость систем• Как часть оптической системы Olympus UIS2, она может быть использована в сочетании с соответствующими микроскопическими субъектами и аксессуарами для создания профессиональной платформы ближнего инфракрасного обнаружения. ‌ 4

АIII. Типичный сценарий примененияА

·анализ полупроводниковых отказов‌: обнаружение трещин, пустот, расслоения и дефектов соединения металлических проводов внутри чипа ИС. ‌ 8

·Обнаружение кристаллической окружности‌: Наблюдайте зоны легирования, дефекты и кристаллическую структуру внутри кремниевой кристаллической окружности. ‌ 39

·Исследования в области материаловедения• Для различных областей научных исследований и промышленных испытаний, требующих внутренней визуализации через непрозрачные материалы. 12