Спектр запуска XES

Спектр эмиссии XES является важной аналитической технологией, которая в основном используется для изучения электронной структуры и химических свойств материала. Жесткие рентгеновские лучи обладают высокой энергией и могут проникать внутрь образца, что делает XES мощным инструментом для обнаружения глубокой информации о материале.

Долгое время спектр тонкой структуры поглощения рентгеновскими лучами (XAFS) можно было тестировать только на отдельных источниках синхронного излучения. Из - за ограниченного времени источника света он не может удовлетворить потребности многих исследователей в тестировании. В последние годы данные XAFS стали « стандартом» для ведущих журналов, в результате чего все больше и больше исследовательских групп нуждаются в тестировании XAFS. Придерживаясь идеи, что XAFS войдет в каждую лабораторию, Институт физики высоких энергий Китайской академии наук и Китайский университет науки и техники совместно представили новый рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (RapidXAFS).

Спектр запуска XESПреимущества продукции:

Обладает следующими характеристиками:

• Продукты с максимальным световым потоком

  Поток фотонов превышает 1 000 000 фотонов / с / eV - 4 000 000 фотонов / с / eV, спектральная эффективность в несколько раз выше, чем у других продуктов; Получение такого же качества данных, как и синхронное излучение

• Отличная стабильность.

  Устойчивость монохроматической интенсивности света источника света лучше 0,1%, повторный сбор энергии дрейфа < 50 meV

• < 1% Предел обнаружения

  Высокий световой поток, отличная оптимизация оптического пути и стабильность источника света обеспечивают высокое качество данных EXAFS при содержании измеренных элементов > 1%

• двойная структура Роланда

  Прорыв в использовании двойной Роланд - окружной структуры для одновременного представления локальной структуры двух элементов в одном рентгеновском источнике
  

Рентгеновская абсорбционная тонкая структура (XAFS, X - ray absorption fine structure) - мощный инструмент для изучения локальных атомных или электронных структур материала, который широко используется в таких популярных областях, как каталитическая, энергетическая и нанотехнологическая.

Спектр запуска XESОсновными преимуществами являются:

1. Не полагаясь на длинные упорядоченные структуры, они могут использоваться для изучения аморфных материалов;

2. Без вмешательства других элементов различные элементы в одном и том же материале могут быть изучены отдельно;

3. Образцы не повреждаются, тестируются в атмосферной среде и могут быть испытаны на месте;

4. Не подвержен влиянию состояния образца, может измерять твердое тело (кристалл, порошок), жидкость (раствор, расплавленное состояние) и газ и так далее;

5. Можно получить такие структурные параметры, как тип атома, координатное число и расстояние между атомами, точность расстояния между атомами до 0,01A.

Дизайн двойного Роланда

Это сопоставимо с разрешением синхронного излучения.

Тесты XES различают N, C, O

Спектр XAFS состоит в основном из двух частей: рентгеновская абсорбционная ближняя структура (XANES) и расширенная тонкая структура поглощения рентгеновских лучей (EXAFS). Энергетический диапазон EXAFS составляет от 50 до 1000 эВ после поглощения, что является результатом однократного рассеяния электронов между окружающими атомами и поглощающими атомами, вызванными рентгеновскими лучами. XANES включает в себя диапазон от примерно 10 эВ до примерно 50 эВ после края поглощения, главным образом из - за эффекта многократного рассеяния одного электрона между окружающими и поглощающими атомами фотоэлектронов внутренней оболочки, возбужденных рентгеновскими лучами.

Измеряемые элементы: зеленая часть измеряет K - сторону, желтая часть измеряет L - сторону

Применение XAFS:

• Промышленный катализ

• Материалы для хранения энергии

• Наноматериалы

• Токсикология окружающей среды

• Тотальный анализ

• Анализ тяжелых элементов