Инструменты Rapid XES
Жесткий рентгеновский спектр Rapid XES(X - ray Emission Spectroscopy, XES) - это важная аналитическая технология, которая в основном используется для изучения электронной структуры и химических свойств материала. Жесткие рентгеновские лучи обладают высокой энергией и могут проникать внутрь образца, что делает XES мощным инструментом для обнаружения глубокой информации о материале. Основные области применения XES включают:
Химический анализ состояния: XES может предоставить непосредственную информацию о химическом состоянии элементов в образцах, таких как окислительное состояние и контактная среда, что имеет решающее значение для понимания химических свойств материала и механизмов реакции.
Материаловедение: В разработке и исследованиях новых материалов XES используется для анализа электронной структуры материала, структуры энергетической полосы и информации о ценовой полосе, которая имеет важное значение для оптимизации электрических и оптических свойств материала.
Исследования катализаторов: технология XES позволяет обнаруживать активные участки катализатора и его электронную среду на атомном уровне, что позволяет разрабатывать более эффективные катализаторы.
4. Экологические науки: анализируя химическое состояние загрязнителей в пробах окружающей среды (например, в почве, водоемах и атмосферных частицах), XES помогает понять источники, процессы переноса и преобразования загрязнителей.
Исследования энергетических материалов: Изучая электронные структуры и рабочие механизмы аккумуляторов, топливных элементов и солнечных материалов, XES предоставляет ключевую информацию на электронном уровне, которая имеет важное значение для оптимизации производительности этих устройств преобразования и хранения энергии.
6. Биомедицинская область: XES используется для изучения среды распределения ионов металлов в биологических молекулах, таких как белки и ферменты, которые играют важную роль в понимании функций биологических молекул и разработке лекарств.
Наука о Земле: В исследованиях в области наук о Земле и планетах XES может анализировать образцы минералов и горных пород, раскрывая их состав и условия окружающей среды в процессе формирования.
Технология жесткого рентгеновского спектра (XES) играет все более важную роль в научных исследованиях и промышленных применениях из - за информации об элементах и химическом состоянии, которую она предоставляет, особенно в тех случаях, когда нет возможности непосредственно использовать другие технологии для обнаружения глубинных или микроэлементов в образцах. По мере развития измерительных технологий XES, как ожидается, найдет применение в большем количестве областей в будущем.
Принцип прибора:
Внешний вид прибора:
Жесткий рентгеновский спектр Rapid XESПараметры прибора:
Диапазон энергии обнаружения: 5 - 15 кэВ;
2. Измеряемая сторона K элемента 3D, сторона L переходного металла 5D и пик флуоресценции на стороне L актинида;
Эффективность электронных дырок: ≥1×1011;
Энергетическое разрешение: 1,5 эВ Cu Ka;
5. Предел обнаружения: 0,1% WT;
6. Повторяемость: повторное сканирование смещения энергии<50 меВ;
7. гелиевые полости, уменьшающие поглощение воздуха рентгеновскими лучами;
Высокочистый Si или Ge кристаллический монохроматор, обеспечивающий энергетическое разрешение в области всемогущей энергии;
9. Настройка системы бассейна на месте, может проектировать различные модульные системы тестирования на месте, высокотемпературные низкотемпературные, многофазные каталитические, электрокаталитические и другие системы тестирования на месте интегрированы, может быть реализовано модульное переключение;
10. Включает систему обработки данных, которая автоматически выводит спектральные данные эмиссии в процессе сбора без дополнительного переключения.
Справочные данные:

