-
Электронная почта
info@phenom-china.com
-
Телефон
18516656178
-
Адрес
Шанхайская площадь Хунцяо Либао, комната T5705
Фунаньская научная приборная компания с ограниченной ответственностью
info@phenom-china.com
18516656178
Шанхайская площадь Хунцяо Либао, комната T5705
Фенома Pharos G2Это второе поколение голландской компании Fener.Настольные сканирующие зеркала с электронным источником излучения на поле Шотки(Настольная площадка запускает SEM). ОборудованиеЭлектронная визуализация с обратным рассеянием (BSE) + вторичная электронная визуализация (SE) + интегрированный спектральный анализ энергии (EDS)В одном, для достижения высокого разрешения, высокой эффективности и полной автоматизации микропредставления научного уровня.
Благодаря высокояркому источнику электронов, излучаемому полем Шотки, Phenom Pharos G2При низком напряжении можно получить четкое изображение.Значительное снижение повреждения образца с проникновением электронного луча, идеально подходитИзоляционные материалы, чувствительные к электронному лучу образцы, биологические материалы, полимерыМикроанализ в таких областях как.
ПрименениеИсточники электронов, излучаемых тепловым полем (Schottky FEG)
Высокая яркость, высокая стабильность, долголетие, подходит для долгосрочных научных экспериментов
Разрешение лучше1,5 нм
Изображение при низком напряжении сохраняет тонкую поверхностную структуру
Более реалистичное восстановление образцов наноматериалов, металлов, полупроводников, высокомолекулярных и т.д.
Электронная визуализация обратного рассеяния (BSE)
Вторичное электронное изображение (SE)
Интегрированный энергетический спектр EDS (высокоскоростная стабилизация)
Одно устройство может быть выполнено.Внешность + анализ компонентов
Автоматизированный дизайн за 30 минут.
Панорамная навигация с цветным оптическим микроскопом, более интуитивное позиционирование
ИнтеграцияСтанция для отбора образцов автоматических двигателейОперация без порога
Встроенный вакуумный замок,15 секунд.Можно заполнить вакуум.
Можно непосредственно наблюдать образцы без электропроводности, без металлопокрытия
Более дружелюбны к чувствительным образцам электронного луча.
встроенный27 Отдельные модули амортизации
Нет необходимости в дополнительной сейсмической платформе, подходит для школьных лабораторий, корпоративных научно - исследовательских лабораторий, узких офисных помещений
Без регулирования, без параллелизма, без обслуживания
Обеспечить согласованность изображений, значительно уменьшить сложность обслуживания
Настольные сканирующие зеркала.Стабильность, долговечность, высокая автоматизацияХарактеристики широко используются в научно - исследовательских институтах, исследованиях и разработках материалов, литиево - электрической промышленности, полупроводниковом тестировании, анализе качества и других областях.
Длительный срок службы нити накаливания, стабильная производительность
Система зеркал имеет аппаратную защиту безопасности, чтобы избежать повреждения при неправильной работе
Бесплатная дистанционная диагностика
Последующее техническое обслуживание простое, общая стоимость значительно ниже, чем у традиционных наземных передающих зеркал

Материаловедение (металлы, керамика, высокомолекулярные, композитные материалы)
Материал литиевых батарей, анализ порошка на положительных и отрицательных полюсах
Обнаружение дефектов полупроводников, микроэлектронов и кристаллических кругов
Биологические материалы, структура тканей, микронаноструктурный анализ
Изучение поверхностной инженерии, покрытия, пленки
Промышленный контроль качества и анализ отказов
✔ Качество изображений научного уровня
✔ Объем рабочего стола, без машинного отделения
✔ Высокая степень автоматизации, нулевой порог работы
✔ Низкие эксплуатационные расходы и высокая надежность
✔ Машина завершает морфологический + элементный анализ.
Если необходимо приобрестиНастольные сканирующие зеркала FennaТехнические параметры, список конфигураций, примеры применения или котировкиДобро пожаловать связаться с нами: