Французская электрохимическая станция микросканирования Bio - Logic

Французская электрохимическая станция микросканирования Bio - Logic- Микроскоп.Это сканирующая зондовая система четвертого поколения, разработанная Uniscan Instruments, с более высокими характеристиками и большим количеством технологий зондирования.

Сканирующая электрохимическая микросистема (SECM)

Электрохимическая микроскопическая система сканирования переменного тока (ac - SECM)

Электрохимическая микроскопическая система с прерывистым контактным сканированием (IC - SECM)

Система тестирования микрохимического сопротивления (LEIS)

Сканирующая вибрационная тест - система (SVET)

Система микрокапельного сканирования электролита (SDS)

Система микрокапельного сканирования электролита переменного тока (ac - SDS)

Сканирование зондовой тестовой системы Кельвина (SKP)

Неконтактная микросистема физического тестирования (OSP)

Отличная работа.

Быстрая и точная замкнутая система позиционирования специально разработана для проведения исследований наноуровня с помощью электрохимических сканирующих зондов. В сочетании с гибридной 32 - битной технологией DAC от Uniscan * пользователи могут выбрать подходящую конфигурацию * для экспериментальных исследований

Продвинутая и гибкая рабочая платформа

Система предлагает девять методов зондирования, что делает M470 гибкой платформой для работы с электрохимическим сканированием пляжей.

Всеобъемлющее приложение

Семь модулей доступны, три различных электролитических бассейна, различные типы зондов, дальний микроскоп и программное обеспечение для анализа данных после обработки.

Французская электрохимическая станция микросканирования Bio - Logic- Микроскоп.Характеристики продукции

Автоматическая обработка кривых SECM

Пользователи SECM настраивают изменения в шаге кривой

Чтение с высоким разрешением

Ручное или автоматическое регулирование фаз

M470 обладает следующими характеристиками:

Коррекция наклона

Уменьшение кривой X или Y (многочлен порядка 5)

2D или 3D Быстрое изменение Фурье

Эксперименты, перемещение зондов и автоматическая сортировка региональных карт

Графический экспериментальный секвенирующий движок (GESE)

Поддержка многозонального сканирования

Все эксперименты с несколькими данными

Пиковый анализ

технические параметры

Рабочие станции (все технологии)

Диапазон сканирования (x, y, z) больше 105 нм

Разрешение привода сканированияZui Высокий0,1 нм

Линейный кодер с нулевым запаздыванием с замкнутым контуром, считывающий смещения x, z и y непосредственно в реальном времени

Разрешение по оси (x, y, z) 20 нм

zui Большая скорость сканирования 12,5 мм / с

Измерительное разрешение 32 - bit декодер @ до 40 МГц

пьезоэлектричество (IC - и AC - сканирующие зондовые технологии)

Диапазон колебаний 20 нм ~ 2 мкм приращение 1 нм между пиком и пиком

Разрешение малых вибраций Zui 0,12 нм (16 - bit DAC, 4 мкм)

Давление кристаллов 100 мкм

Расположение с разрешением 0,09 нм (20 - bit DAC, 100 мкм)

электромеханический

Сканирование передней части 500 × 420 × 675 мм (H×W × D)

Блок управления сканированием 275 × 450 × 400 мм (H×W × D)

Мощность 250 Вт