Helios 5 Лазерная система PFIB

Лазерный инструмент FIB SEM для высокопропускного поперечного сечения в миллиметровом масштабе и 3D-характеризации с нанометровым разрешением

Термо научныйHelios 5 Лазерная система PFIBсочетает в себе лучшую в своем классе монохромную колонку сканирующей электронной микроскопии (SEM) Elstar с фокусированным ионным лучем плазмы (PFIB) и фемтосекундным лазером для получения инструмента высокого разрешения для визуализации и анализа сна местеспособность абляции, предлагающая беспрецедентные скорости удаления материала для быстрой характеризации в миллиметровом масштабе при нанометровом разрешении.

Ключевые особенности

Быстрое удаление материала

Поперечные сечения в миллиметровом масштабе с удалением материала до 15 000 раз быстрее, чем типичный ионный луч, сфокусированный на галлии.

Точное и повторяемое размещение резки

Одна и та же совпадающая точка для всех трех лучей (SEM/PFIB/лазер) позволяет точное и повторяемое размещение разреза и 3D-характеризацию.

Высокопроводная обработка сложных материалов

Включает в себя непроводительные или чувствительные к ионным лучам образцы.

Поделится всеми возможностями платформы Helios 5 PFIB

Высококачественная подготовка образцов TEM и APT без галлия и возможности изображения с высоким разрешением.

Статистически актуальный подземный и 3D анализ данных

Приобретайте данные для гораздо больших объемов за короткий период времени.

Быстрая характеристика глубоких подземных особенностей

Экстракция подземных ламель TEM или кусков для 3D-анализа.

Быстрая и простая характеристика чувствительных к воздуху образцов

Нет необходимости передавать образцы между различными приборами для визуализации и поперечного сечения.