Автоматический анализ поверхности и многофункциональный рентгеновский фотоэлектронный спектрометр

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр Thermo Scientific Nexsa G2 (XPS) обеспечивает полностью автоматический высокопроизводительный поверхностный анализ данных для продвижения исследований и разработок или решения производственных проблем. Интеграция XPS с спектром рассеяния ионов (ISS), спектром ультрафиолетовых фотоэлектронов (UPS), спектром потери энергии отраженных электронов (REELS) и спектром Рамана позволяет проводить настоящий совместный анализ. В настоящее время система включает в себя функции нагрева и смещения образцов, расширяя диапазон возможных экспериментов.Система анализа поверхности Nexsa G2Потенциал был задействован в области материаловедения, микроэлектроники, разработки нанотехнологий и многих других прикладных областях.

Система анализа поверхности Nexsa G2Основные характеристики

Высокопроизводительный рентгеновский источник

Новый маломощный рентгеновский монохроматор, который позволяет выбирать площадь анализа от 10 до 400 мкм с интервалом 5 мкм, обеспечивает сбор данных из интересующей области характеристик и одновременно сигнализирует.

Образец

Оптическая система наблюдения Nexsa XPS и функция SnapMap фокусируются на характерных областях образцов и помогают быстро находить интересующие области.

Глубинный анализ

Получение информации под поверхностью с использованием стандартного источника ионов или MAGCIS (факультативный двухрежимный моноатомный и газокластерный ионный источник); Автоматическая калибровка источников ионов и обработка кластеров газов обеспечивают производительность и повторяемость экспериментов.

Цифровое управление

Управление приборами, обработка данных и отчетность контролируются системой данных Avantage на базе Windows.

Отличная электронная оптическая система.

Высокоэффективные электронные линзы, полусферические анализаторы и детекторы позволяют им обнаруживать и быстро собирать данные.

Анализ образцов изоляции

Двупучковый нейтрализующий источник: может излучать как ионы низкой энергии, так и электроны низкой энергии (менее 1 эВ). В ходе испытаний образцы, особенно изолированные, могут быть хорошо нейтрализованы, что делает анализ данных простым и надежным.

Модуль подогревателя образцов NX

Полностью управляемые программным обеспечением параметры функции нагрева образцов, поддерживающие исследования, связанные с температурой.