Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра K - Alpha

ДоговариваемыйОбновление на01/31

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра K - Alpha $r $n Высокоэффективные электронные линзы, полусферические анализаторы и детекторы позволяют рентгеновскому фотоэлектронному спектрометру K - Alpha обнаруживать и быстро собирать данные.

Подробности о продукте

Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра K - Alpha

Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра K - AlphaРентгеновский спектр фотоэлектронов для высокопроизводительного поверхностного анализа

Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра Thermo Scientific K - Alpha (XPS) предлагает новый метод анализа поверхности. Система K - Alpha XPS фокусируется на предоставлении высококачественных результатов с использованием упрощенных рабочих процессов, которые делают работу XPS простой и интуитивно понятной без ущерба для производительности или функциональности. Система K - Alpha XPS представляет собой интегрированную монохроматическую систему XPS с небольшим световым пятном с возможностью глубокого анализа.

Более совершенная производительность, более низкие цены, более простое использование и больший объем тестирования образцов делают систему K - Alpha XPS идеальным вариантом для многопользовательской среды. Система K - Alpha XPS позволяет исследователям по всему миру проводить поверхностный анализ.

Характеристики рентгеновского фотоэлектронного спектрометра K - Alpha

Высокопроизводительный рентгеновский источник

Рентгеновский монохроматор, оснащенный рентгеновским фотоэлектронным спектрометром K - Alpha, позволяет выбирать 5 мкм шагов в аналитической области от 50 до 400 мкм для поиска требуемого сигнала.

Образец

Оптическая система наблюдения системы K - Alpha XPS и сфокусированные образцы XPS SnapMap помогают быстро определить область анализа.

Глубинный анализ

Для более глубокого анализа поверхности используется ионный источник EX06, оборудованный рентгеновским фотоэлектронным спектрометром K - Alpha. Функции автоматической оптимизации источника и обработки газа обеспечивают производительность и воспроизведение экспериментов.

Дополнительный стол для образцов

Предлагается широкий выбор специальных стендов для образцов, соответствующих рентгеновскому фотоэлектронному спектрометру K - Alpha, включая XPS с переменным углом, тест на смещение образца или инертный перенос образца из бардачка и так далее.

Отличная электронная оптическая система.

Высокоэффективные электронные линзы, полусферические анализаторы и детекторы позволяют рентгеновскому фотоэлектронному спектрометру K - Alpha обнаруживать и быстро собирать данные.

Анализ образцов изоляции

В рентгеновском фотоэлектронном спектрометре K - Alpha полученный двухлучевой источник электронов связывает низкоэнергетический ионный луч с низкоэнергетическим электроном (менее 1 эВ), предотвращая заряженность образца во время анализа, тем самым устраняя эффект заряда в большинстве случаев.

Цифровое управление

Интуитивно понятные операции, управляемые системой данных Avantage, делают систему K - Alpha XPS идеальным выбором для многопользовательских, тестовых центров и экспертов XPS, ориентированных на эффективную работу и высокий уровень тестирования.

Данные о производительности системы K - Alpha XPS

Тип анализатора	Анализатор полушария с двойной фокусировкой 180°, 128 - канальный детектор
Тип источника рентгеновского излучения	Монохромный, микрофокусированный, маломощный рентгеновский источник Al K - Alpha
Размер рентгеновского пятна	50 - 400 мкм (настраивается в 5 мкм)
Глубинный анализ	Источники ионов EX06
Максимальная площадь образца	60х60 мм
Максимальная толщина образца	20 мм
Вакуумная система	Два турбомолекулярных насоса с автоматическим титановым сублимирующим насосом и механическим насосом
Дополнительные аксессуары	Кронштейн для образцов ADXPS, кронштейн для образцов рабочих функций, ящик для перчаток

Похожий продукт рекомендовать