многокристаллический рентгеновский дифрактометр

Дифракционные приборы серии XD6

Тип XD6многокристаллический рентгеновский дифрактометрИспользуется для качественного количественного анализа структуры кристаллического вещества. Продукт разработан на основе XD3, радиус сканирования гониометра непрерывно регулируется. Эта функция позволяетБПользователи могут делать сбалансированный выбор между угловым разрешением прибора и испытательной интенсивностью дифракционных лучей, самостоятельно устанавливать необходимые условия испытаний для удовлетворения потребностей испытаний в различных ситуациях. XD6 повышает скорость вращения,В результатеПовышение эффективности экспериментов.

• Структура новая, с использованием вертикальной углометрической структуры, более удобный способ размещения образцов, упрощает работу по эксплуатации и обслуживанию, более интуитивное использование, облегчает очистку испытательного стенда.

• Используя технологию разукрупненного привода,непрерывная регулировка радиуса развёрткиА.

• Импорт детектора сцинтилляционных кристаллов NAI с разрешением и длинойвремяИспользуйте стабильность.А.

• Рентгеновская втулка использует общую точность обработки и позиционирования медного стержня, лучшую защиту от лучей; Используется вращающийся затвор, более быстрая скорость переключения, более низкая частота отказов, лучшая блокировка лучей, низкая доза излучения вне шкафаА.

• Были дополнительно усовершенствованы цифровые схемы управления рентгеновскими источниками, а рабочая мощность рентгеновского аппарата * устанавливается дистанционно компьютером. Процесс загрузки высоковольтных и трубных потоков автоматически управляется микрокомпьютером, более простой в использовании и более надежной работеА.

• Китайский интерфейс Windows, новая модификация пакета для обработки дифракционных данных PDP，Поддержка нескольких способов вывода данных.