- Электронная почта
- Телефон
-
Адрес
Хэчуань - роуд, 2570, дом 1, 9.
Брук (Пекин) текнолоджи лтд
Хэчуань - роуд, 2570, дом 1, 9.
Инновации в области полупроводников неотделимы от точного анализа на каждом этапе.RAMANdrive Микроскоп РаманаОн оснащен отличной быстрой микроскопической технологией Raman, специально разработанной для продвижения прорыва в исследованиях и разработках полупроводников и ускорения инновационного процесса.
Компания Nanophoton RAMANdrive специально разработана для экономии времени и повышения эффективности. Достаточно загрузить данные из обычного инструмента обнаружения, чтобы RAMANdrive автоматически идентифицировал область внимания и переместил кристаллическую окружность в указанное место для детального анализа.

Навигационная система на платформе - носителе повышает эффективность работы программного обеспечения RAMANdrive, а рабочие процессы становятся более эффективными и экономичными. После прямого импорта данных устройства обнаружения RAMANdrive автоматически направляет кристаллическую окружность в указанное место для детального анализа. Грузоподъемная станция перемещает кристаллическую окружность с высокой точностью, обеспечивая безопасное и надежное обнаружение всех проблемных областей. Эта функция также применима к другим типам образцов.
Основные характеристики 300 - мм транзисторной платформы:
Совместимость с крупногабаритными кристаллами: поддерживает до 300 мм кристаллическую окружность, которая стабильно фиксируется вакуумными трубопроводами, соединенными с небольшими каналами.
Полный охват всей пластины: лазер может покрывать всю поверхность пластины.
Адаптивный толстый образец: конструкция глубокой канавки несущего стола отвечает аналитическим потребностям более толстого образца.
Навигационная система станции - носителя является основной частью программного обеспечения RAMANdrive, которое экономит время и повышает эффективность. На этом стенде можно разместить крупногабаритные кристаллы размером до 300 мм. При анализе достаточно загрузить данные с обычного устройства обнаружения, чтобы RAMANdrive идентифицировал область внимания и автоматически переместил кристаллическую окружность в указанное место для детального анализа. Эта технология также может удовлетворить аналитические потребности других образцов.

Превосходная технология лазерного освещения Nanophoton позволяет быстро собирать данные и получать 400 спектров за одну экспозицию. Технология может выполнять сканирование без перемещения образца, собирая сотни тысяч пикселей за несколько минут, создавая изображения Рамана в целевой области. При достижении максимальной скорости визуализации без потери спектральной массы и пространственного разрешения это имеет решающее значение для обнаружения частиц размером менее 100 нм, анализа напряжений и мультимодального анализа.

В крупномасштабных, низкопространственных приложениях визуализации Рамана (таких как анализ кристаллической окружности) размер лазерного пятна обычно намного меньше, чем длина шагов между точками измерения. Таким образом, традиционный метод точечного сканирования изображений является недостаточным для полного и репрезентативного отражения профиля анализируемого региона. Чтобы преодолеть это ограничение, технология AreaFlash обеспечивает эффективное покрытие всей измеренной области лазерным излучением, расширяя лазерное пятно, чтобы получить полное и репрезентативное изображение Рамана.

Типичным примером является анализ полиморфизма карбида кремния. В этом приложении функция предварительного просмотра AreaFlash позволяет быстро распознавать различия в кристаллической структуре. Применение более низкого пространственного разрешения на этапе первоначальной оценки значительно экономит время и затраты на рабочую силу. Полученные обзорные изображения могут послужить основой для последующих, более сложных исследований. В целом этот подход обеспечивает эффективный баланс между первоначальной оперативной оценкой и всесторонним углубленным анализом.

Автоматизированная калибровка может быть проведена до измерения или в промежутке измерения.RAMANdrive Микроскоп РаманаИмеет встроенную справочную функцию для вставки образцов кварца в оптический путь с помощью программного управления. Когда образец находится в световом пути, кварцевый эталонный пик в точке 464 см ⁻1 будет присутствовать во всех измерениях. Расчет разницы между кварцевым пиком и целевым пиком (например, кремниевым пиком на 520 см ⁻) позволяет устранить в реальном времени все системные ошибки, включая типичное отклонение калибровки около 0,1 см ⁻.
