Scios 2 DualBeam Электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом

ДоговариваемыйОбновление на01/31

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Электронный микроскоп Scios 2 DualBeam с фокусированным ионно - лучевым сканированием используется для сверхвысокого разрешения, подготовки высококачественных образцов и 3D - представления.

Подробности о продукте

Scios 2 DualBeamЭлектронный микроскоп с фокусированным ионно - лучевым сканированием для сверхвысокого разрешения, подготовки высококачественных образцов и 3D - представления

Термо научныеScios 2 DualBeamЭто система электронной микроскопии (FIB - SEM) со сверхвысоким разрешением, которая обеспечивает превосходную подготовку образцов и 3D - характеристики для различных образцов, включая магнитные и непроводящие материалы. Улучшение потока, точности и простоты использования с помощью инновационного функционального дизайна является идеальным решением для удовлетворения потребностей ученых и инженеров в передовых исследованиях и анализе в академических, правительственных и промышленных областях.

Scios 2 DualBeamэлектронный микроскоп с фокусированным ионно - лучевым сканированиемОсновные характеристики:

Быстрая и легкая подготовка.

Используйте ионную колонну Sidewinder HT для получения высококачественных, специфических для места образцов TEM и атомных зондов.

Полная информация о образце

Ясность, точность и беззарядный контраст достигаются с помощью различных интегрированных хроматографических колонн и детекторов под линзой.

Точная навигация по образцам

Высокогибкая 110 - мм грузоподъемная станция и камерная камера Thermo Scientific NV - Cam позволяют настраивать ее в соответствии с конкретными потребностями приложения.

Оптимизируйте свое решение

Гибкая конфигурация DualBeam, включая альтернативный режим низкого вакуума с давлением камеры до 500 Па, отвечает конкретным требованиям приложения.

Изображение со сверхвысоким разрешением

Используются электронные хроматографические колонны Thermo Scientific NICOL, обладающие свойствами в широком диапазоне образцов, включая магнитные и непроводящие материалы.

Высококачественная, мультимодальная субповерхность и 3D информация

Использование дополнительного программного обеспечения AS & V4 для получения высококачественной, мультимодальной субповерхности и 3D - информации путем точного нацеливания на интересующие области.

Изображения и композиции без подделок

Существуют специальные режимы, такие как DCFI, подавление дрейфа и Thermo Scientific SmartScan.

спецификация

Разрешение электронного луча	Лучший WD 0,7 нм при 30 кВ STEM 1.4 нм при 1 кВ 1,2 нм при 1 кВ (замедление луча)
параметрическое пространство электронного луча	Диапазон токов в электронном луче: от 1 pA до 400 nA Энергетический диапазон посадки: 20 * EV - 30 KEV Диапазон ускоренного напряжения: 200 В - 30 кВ Максимальная ширина поля горизонтального выстрела: 3,0 мм при 7 мм WD и 7,0 мм при 60 мм WD Возможность получения сверхширокого поля зрения с помощью стандартных навигационных клипов (1×)
ионно - оптическая система	Ускорительное напряжение: 500 В - 30 кВ Диапазон токов электронного луча: 1.5 pA - 65 nA 15 Расположение диафрагмы Режим подавления дрейфа, стандартный режим для непроводящих образцов Минимальный срок службы источника ионов: 1000 часов Разрешение ионного пучка: 3,0 нм при 30 кВ при методе выбора угла
Детектор	Система обнаружения Trinity (внутри зеркала и хроматографической колонны) T1 Сегментный детектор нижнего зеркала T2 Внутренний детектор T3 Внутренний детектор телескопической хроматографии (может быть выбран) До 4 одновременных сигналов. Everhart - Thornley SE детектор (ETD) Высокопроизводительные преобразователи ионов и детекторы электронов (ICE) для вторичных ионов (SI) и вторичных электронов (SE) (по выбору) Масштабируемый, низковольтный, высококонтрастный, сегментный, твердотельный детектор электронов обратного рассеяния (DBS) (может быть выбран) Масштабируемый детектор STEM 3 + с сегментами BF / DF / HAADF (можно выбрать) Посмотреть образцы и камеры IR камеры камеры Камера навигации по образцам Nav - Cam в камере (может быть выбрана) Интегрированные измерения тока луча
Контейнеры и образцы	Гибкая 5 - осевая электрическая платформа: Диапазон XY: 110 мм Диапазон Z: 65 мм Вращение: 360° (бесконечно) Диапазон наклона: от - 15° до + 90° Повторяемость XY: 3 мкм Максимальная высота образца: расстояние между точкой с концентрическим центром 85 мм Максимальный вес образца при наклоне 0 °: 5 кг (включая стеллаж для образцов) Максимальный размер образца: 110 мм при вращении (также может быть более крупным образцом, но с ограниченным вращением) Вращение и наклон вычислительного центра

Похожий продукт рекомендовать