Добро пожаловать Клиент!

Членство

Помощь

Shenzhen Tianrui Instrument Co., Ltd
Заказчик производитель

Основные продукты:

instrumentb2b> >Продукты

Shenzhen Tianrui Instrument Co., Ltd

  • Электронная почта

  • Телефон

  • Адрес

    Shenzhen Baoan Taohuayuan Songgang Town, Baoan District, Baoan Taohuayuan Songgang Innovation Park Qifengda Tower, 22 - й этаж, город Юйшань, город Куньшань, провинция Цзянсу, China Park West Road, 1888

Свяжитесь сейчас

прибор для измерения толщины покрытия полупроводниковых печатных плат

ДоговариваемыйОбновление на05/07
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения

Обзор

Полупроводниковый печатный прибор для измерения толщины покрытия рентгеновский флуоресцентный спектрометр EDX2000A (полностью автоматический детектор толщины мембраны в микрозоне) для быстрого фокусировки и точного анализа образцов в различных простых и сложных формах, таких как плоскость, выпуклость, угол, дуга, для удовлетворения потребностей в бесконтактных испытаниях толщины покрытия в микрозоне в полупроводниках, чипах и PCB. Благодаря автоматизированному трехмерному движению оси Y оси Z оси X, двухлазерная система позиционирования и защиты.

Подробности о продукте

прибор для измерения толщины покрытия полупроводниковых печатных платРентфлуоресцентный спектрометр с энергетической дисперсией EDX2000A (полностью автоматический детектор толщины мембраны в микрозоне) обеспечивает быстрый фокус - точный анализ образцов в различных простых и сложных формах, таких как плоскость, выпуклость, угол, дуга и т. Д. Для удовлетворения потребностей в бесконтактных испытаниях толщины покрытия в полупроводниках, чипах и PCB. Благодаря автоматизированному трехмерному движению оси Y оси Z оси X, двухлазерная система позиционирования и защиты.

область применения
Гальваническая промышленность, электронная связь, новые источники энергии для космонавтики, ванная из металла, электрооборудование
Автомобильное производство, магнитные материалы, гальваническое покрытие из драгоценных металлов, университеты и научно - исследовательские институты и т.д.

Параметры сверхвысокого оборудования
прибор для измерения толщины покрытия полупроводниковых печатных платИспользуя детектор Fast - SDD с разрешением до 129eV, он может точно анализировать характерные сигналы каждого элемента и может быть легко протестирован для сложного основания и многослойного сложного покрытия.
В сочетании с мощными рентгеновскими трубками, может хорошо гарантировать стабильность выхода сигнала и возбуждения, уменьшить частоту отказов прибора.
Высокоточная автоматизация трехмерных соединений осей X, Y, Z, более точное и быстрое завершение позиционирования точек тестирования крошечных фасонов (таких как дуги, арки, резьбы, сферы и т. Д.).

Дизайн яркости
Фотографическая конструкция, которая может быть адаптирована для тестирования большего количества крошечных образцов. По сравнению с традиционными световыми путями эффективность сбора сигналов увеличилась более чем в 2 раза. Можно масштабировать высокоточные камеры, в сочетании с системой коррекции расстояния, чтобы удовлетворить потребности в тестировании микропродуктов, ступеней, глубоких канавок, проб отверстий. Программируемые платформы автоматического смещения, крошечные плотные многоточечные тесты, значительно повышают эффективность измерения проб. Собственная система коррекции данных.

Программный интерфейс
Человеческий программный интерфейс делает операции более удобными.
Кривые китайские примечания, чтобы сделать вашу операцию проще.
Мониторинг аппаратных функций прибора в режиме реального времени делает ваше использование более безопасным.