Технические параметры флуоресцентного спектрометра XEPOS

Технические параметры флуоресцентного спектрометра XEPOS

Немецкая компания Speck Analytics Instruments разработала чрезвычайно успешную технологию применения поляризованных рентгеновских лучей для флуоресцентного анализа. Подобно тому, как поляризационные фильтры сегодня являются незаменимым инструментом для получения высококачественных изображений, эта аналитическая технология стала незаменимым средством для лабораторных измерений основных, вторичных и микроэлементов. Компания Speck Analytics Instruments продолжает развивать эту технологию и представила новое поколение приборов - настольный поляризованный рентгеновский флуоресцентный спектрометр SPECTRO XEPOS.
Технические параметры флуоресцентного спектрометра XEPOS

В SPECTRO XEPOS используются высокопроизводительные компоненты, обеспечивающие высокую чувствительность и точность. Использование поляризованных вторичных мишеней для обеспечения * хорошего возбуждения, 12 - битного автоматического коммутатора образцов, предварительно установленных пакетов приложений и интеллектуальных программных модулей делает SPECTRO XEPOS действительно многофункциональным анализатором элементов.

SPECTRO XEPOS поставляется с заранее установленными пакетами приложений, которые включают в себя различные аппаратные средства и аналитические методы, которые предварительно корректируются на заводе. Подходит для анализа: почва, осадок, добавки в масле, цемент, шлак, огнеупорные материалы, электронные компоненты RoHS обнаружения и так далее.

Рентгеновский флуоресцентный спектрометр XEPOS может широко использоваться в различных электронных материалах и пластмассах для анализа таких элементов, как свинец, кадмий, (ртуть), низкий нижний предел обнаружения, высокая чувствительность, хорошая стабильность, в соответствии с европейскими директивами WEEE, RoHS.