Сканирующие зеркала Symerfei

Shengbin Instruments Technology (Shanghai) Co., Ltd. является системным поставщиком, специализирующимся на анализе и тестировании промышленности, всегда занимался анализом поставок расходных материалов для импортных приборов в области технологии испытаний, основные преимущества дистрибьюторского бренда: American Saimer Fisher, оригинальные аксессуары расходные материалы (например: спектр ICP, масс - спектр ICP - MS, спектр атомного поглощения AAAS, темперамент GC - MS, жидкий материал LC - MS, спектр прямого чтения ARL ARL3460, ARL4460, ARLiSpark8820 / 8860 / 80), 9800 / 990 рентгеновский спектр, изотопный спектр, инфракрасный спектр, запасные части для Расходные материалы Elmer (PerkinElmer), расходные материалы Agilent (США), расходные материалы Waters (США), расходные материалы хроматографии Daian (DIONEX), расходные материалы Shimadzu, Wantong (Швейцария), CEM расходные материалы и так далее.

4035 273 12631Сканирующие зеркала Symerfei

СаммерфиЧасть расходных материалов FEL

16830 Источники ионов

4035 273 12631 Вытащить полюс

4035 273 6 7441Диафрагма

4035 272 35991Удерживающий полюс

4035 272 35971 Вытащить полюс

1058129 Вытащить полюс

1301684 Супрессор Удерживающий полюс

1096659 Апертура Диафрагма

1346158 ПТ

зеркало для сканирования окружающей среды

Сканирующие зеркала Thermo Scientific Prisma E (SEM) сочетают в себе широкий спектр режимов визуализации и анализа, а также функции автоматизации и предлагают наиболее полное решение по сравнению с аналогичными приборами. Для применения в области промышленных исследований и разработок, контроля качества и анализа отказов требуется сканирующее зеркало с изображением с высоким разрешением, широкой совместимостью образцов и простым в использовании пользовательским интерфейсом, и Prisma E является идеальным вариантом для такого применения. Prisma E - еще одна успешная практика, основанная на предыдущем поколении Quanta SEM.

Полная производительность, мощная возможность расширения вблизи, а также сочетаниеТехнология Thermo Scientific ChemiSEM обеспечивает самые интуитивные возможности для анализа элементов, что позволяет Prisma E получать изображения и анализ на уровне микрон / субмикрон в любой отрасли или области.

4035 273 12631Сканирующие зеркала Symerfei

Основные характеристики

Информация о доступных элементах

Выбор Технология ChemiSEM и интегрированный спектр рентгеновских лучей с энергетической дисперсией (EDS) распределяют компоненты в реальном времени для визуального анализа элементов. Эта аналитическая способность всегда в режиме онлайн может значительно повысить эффективность вашей работы и получить самую полную информацию о образцах.

Отличное качество изображения.

Гибкий вакуумный режим и технология вакуума через линзу, чтобы сделатьКомпания Prisma E обеспечивает высокое качество изображения при низком напряжении и низком вакууме. И в каждом режиме работы одновременное изображение электронов второго уровня (SE) и электронов обратного рассеяния (BSE) может быть реализовано.

Минимизация времени подготовки образцов

Низкий вакуум и Функция ESEM позволяет визуализировать и анализировать образцы, не содержащие электропроводности и / или воды, без заряда / или обезвоживания.

Изучение материалов в естественном состоянии

С помощью Режим среды (ESEM) Prisma E может быть изображен непосредственно при нагревании, выпуске воздуха или влажности образца.

Отличные аналитические навыки.

Максимальная поддержка установкиТри детектора EDS, два из которых имеют 180° симметрию интерфейса EDS, могут устанавливать спектр рассеяния цвета длины волны (WDS), конформный EDS / EBSD и обеспечивать высококачественный беззарядный анализ EDS и EBSD в низковакуумном режиме.

Легко использовать

Операционное программное обеспечение с руководством пользователя и функцией отмены позволяет новичкам эффективно работать, а также значительно снижает операционную нагрузку для пользователей экспертного уровня.

спецификация