Добро пожаловать Клиент!

Членство

А

Помощь

А
Сямыньская сверхновая технологическая компания с ограниченной ответственностью
ЮйЗаказчик производитель

Основные продукты:

химия17> >Продукты

Сямыньская сверхновая технологическая компания с ограниченной ответственностью

  • Электронная почта

    info@chip-nova.com

  • Телефон

    15860798525

  • Адрес

    Район Хули, Сямынь, провинция Фуцзянь

АСвяжитесь сейчас

высокотемпературная силовая система с линзовым зеркалом

ДоговариваемыйОбновление на12/14
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения
Обзор
Система высокотемпературного силового поля линзы применяет механику, электрическое поле, управление тепловым полем к образцу с помощью чипа MEMS, На площадке для отбора проб на месте строится многополевая автоматическая система управления и измерения обратной связи, в сочетании с различными режимами, такими как EDS, EELS, SAED, HRTEM, STEM и т. Д., Реализация микроструктуры, фазового перехода, валентного состояния элемента, микроскопического напряжения и эволюции структуры и состава образца в вакууме с температурой, электрическим полем, электрическим полем полем и усилием.
Подробности о продукте

638266707032275283315.png


Наши преимущества

Механические свойства

1. Высокоточный пьезоэлектрический керамический привод, наноуровень точности цифрового точного позиционирования.

2. Достижение1000℃Испытания микромеханических свойств, таких как сжатие, растяжение, изгиб в условиях нагрева.

3.Механические измерения уровня NNА.

Функция непрерывного автоматического сбора данных о нагрузке - смещении - времени в режиме реального времени.

5.Обладает постоянной нагрузкой, постоянным смещением, функциями управления циклической нагрузкой, подходит для характеристик ползучести материала, релаксации напряжений, исследования усталостных свойств.


Отличные тепловые свойства.

Высокоточная инфракрасная калибровка измерения температуры, измерение и калибровка теплового поля с высоким разрешением на уровне микрон для обеспечения точности температуры.

Метод контроля температуры УВЧ, исключающий влияние проводов и контактных сопротивлений, более точные измерения температуры и электрических параметров.

3. Высокостойчивая нагревательная проволока драгоценного металла (не керамический материал), является как теплопроводным материалом, так и термочувствительным материалом, сопротивление и температура которого имеют хорошую линейную зависимость, зона нагрева покрывает всю зону наблюдения, скорость нагрева и охлаждения, тепловое поле стабильно и равномерно, температурная волна в стабильном состоянии ± 0,1°C.

4. Используя высокочастотное динамическое управление замкнутым контуром и режим контроля температуры окружающей среды с обратной связью, высокочастотное управление обратной связью устраняет ошибку, точность контроля температуры ± 0,01 °C.

5.Многоступенчатый композитный нагревательный чип MEMS спроектирован таким образом, чтобы контролировать тепловую диффузию процесса нагрева, значительно подавляя тепловой дрейф процесса нагрева и обеспечивая эффективное наблюдение за экспериментом.


Отличные электрические свойства.

Защитное покрытие поверхности чипа обеспечивает низкий уровень шума и точность электрических измерений с точностью измерения токакласс ПианаА.

2.MEMS Микрообработка Специальная конструкция, при одновременной загрузке электрического поля, теплового поля, механики, независимо друг от друга управления.


Интеллектуальное программное обеспечение

1.Человеко - машинное разделение, программное обеспечение для дистанционного управления движением нанозонда, автоматическое измерение нагрузки - данных смещения.

2. Настройка кривой потепления программы. Можно определить более 10 шагов процесса нагрева, время постоянной температуры и т. Д. В то же время можно вручную управлять целевой температурой и временем, в процессе нагрева программы, чтобы обнаружить необходимость изменения температуры и постоянной температуры, вы можете мгновенно отрегулировать экспериментальную программу для повышения эффективности эксперимента.

3. Встроенная программа калибровки абсолютной шкалы температуры, каждый чип может каждый раз контролировать температуру в соответствии с изменением значения сопротивления, повторное выравнивание кривой и коррекция, чтобы обеспечить точность измерения температуры, обеспечить воспроизведение и надежность высокотемпературных экспериментов.



технические параметры

категория проект параметр
основные параметры Материал стержня высокопрочный титановый сплав
Режим управления Высокоточная пьезоэлектрическая керамика
Угол наклона Альфа - ± 20°, разрешение наклона < 0,1° (фактический диапазон зависит от типа линзы и полярных сапог)
Применяемые зеркала Термо Фишер / FEI, JEOL, Hitachi
Полезные ботинки ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
(HR) ТЕМ/СТЕМ поддержка
(HR) EDS/EELS/SAED поддержка











Примеры применения




Эксперимент по механическому сжатию медных наноколонн при температуре 600 °C

Микромеханические и электрические системы (MEMS), которые характеризуются крошечными формами и размерами или минимальными оперативными масштабами, привлекают все большее внимание, что создает ряд трудностей для обычных испытаний на растяжение и сжатие для образцов размером менее 100 мкм. Эксперименты с наносжатием, которые производят лишь небольшое давление в локальном объеме поверхности материала, постепенно становятся основным методом измерения механических характеристик в микро - / наномасштабах. Поэтому необходимы экспериментальные исследования деформации материалов в микронанометровом масштабе. Чтобы изучить поведение деформации монокристаллического центробежного кубического материала в микронанометровом масштабе, эксперименты по наносжатию в качестве основного средства были проанализированы первоначальные пластические деформации медных наноколонн и влияние дефектов кристаллов на первичную пластическую деформацию монокристаллической меди. Результаты показали, что медные колонны демонстрируют большую степень эластичности в процессе наносжатия. В то же время были проанализированы причины и последствия выпуклости окружающего материала при сжатии, и было установлено, что выпуклость окружающего материала при сжатии медных наноколонн приведет к завышению нанотвердости и измеренного модуля упругости. Чтобы изучить влияние неровности поверхности на поведение первичной пластической деформации медных наноколонн, поверхностные дефекты нанометрового уровня были получены на поверхности медных наноколонн методом нагрева, и сравнительный анализ экспериментальных данных наносжатия поверхностных дефектов показал, что наличие поверхностных дефектов может сильно повлиять на начальную пластическую деформацию медных наноколонн. С помощью просвечивающего электронного микроскопа наблюдалась форма дислокации вокруг точки сжатия медного нано - столба. Помимо наблюдения дислокации, создаваемой вокруг нано - сжатия, было также обнаружено сосуществование слоев, неполных дислокаций и дислокационных колец. Это указывает на то, что первоначальная пластическая деформация медных наноколонн тесно связана с возникновением дислокаций.