Рассеятель света с переменным углом (широкоугольный / статический свет)Используется для обозначения частиц. LS Spectrometer - прибор переменного многоугольного рассеяния света (V - MALS). В LS Spectrometer детектор устанавливается на движущейся руке и может быть точно настроен практически под любым углом, что повышает чувствительность измерений. В сочетании с запатентованной 3D - технологией модуляции (Modulated 3D) и CORENN (улучшенное обнаружение агрегации) LS Spectrometer обеспечивает полную характеристику наночастиц на рынке.
- Что он может измерить?
• Размер частиц
• Многодисперсность
• Формы частиц
• Вязкость
• Молекулярная масса
• Структура образца

- Изменяемое многоугольное рассеяние света (V - MALS)
В отличие от многоугольного прибора рассеяния света (MALS) с датчиком с фиксированным углом, детектор LS Spectrometer установлен на вращающемся рычаге вокруг пула образцов, поэтому он может быть точно и переменно настроен на любой выбранный угол рассеяния от 10° до 150°. Это помогает значительно повысить чувствительность измерений по таким параметрам, как размер частицы, обнаружение агрегации, двумерный коэффициент Ли, форма частицы или молекулярная масса.

Измерение неразбавленных образцов - трехмерная технология модуляции (Modulated 3D)
Технологии DLS и SLS основаны на предположении, что только один рассеянный свет обнаруживается. Однако с увеличением концентрации частиц многократное рассеяние увеличивается и постепенно доминирует над сигналом. Это вводит системные ошибки, которые невозможно обнаружить как в DLS, так и в SLS. Независимо от того, как долго или сколько раз повторяются измерения, эта ошибка не может быть устранена или обнаружена. Чтобы преодолеть эту проблему, LS Instruments разработала дополнительные трехмерные технологии модуляции, которые могут эффективно подавлять множественное рассеяние. Технология модуляции трехмерной корреляции использует два лазерных луча для одновременного проведения двух экспериментов по рассеянию, и хотя вклад одного рассеяния одинаков, вклад множественного рассеяния в обоих экспериментах различен. Многократное рассеяние подавляется путем корреляции сигналов. Трехмерный LS Spectrometer - это прибор, который обеспечивает технологию как для DLS, так и для SLS.

- Алгоритмы для улучшения сбора и обнаружения частиц в сложных образцах
Алгоритм CORENN - это новый алгоритм машинного обучения, используемый для извлечения распределения частиц (PSD) из измерений DLS. CORENN - это алгоритм инверсии DLS, который использует * приближение сигнала и уникальную теорию шума сигнала для получения чрезвычайно надежных результатов. Этот надежный подход позволяет конечным пользователям получить реальное распределение частиц (PSD) из реальных экспериментов DLS. На рисунке ниже показаны измерения DLS смеси частиц размером 4 нм и 45 нм, и только алгоритм CORENN может точно получить оба распределения.

Деполяризованное динамическое рассеяние света (Depolarized DLS) для представления анизотропных частиц.
Это метод, который может легко отображать анизотропные частицы и привлекает все большее внимание ученых: набор из двух поляризаторов может представлять динамику вращения образца и вертикальное и горизонтальное соотношение анизотропных частиц с помощью простых измерений DLS.

- Температурный контроль.
Наши * температурные циркуляторы позволяют вам точно контролировать температуру в образце. Это значительно сокращает время нагрева и охлаждения по сравнению с другими циркуляторами. Он может быть предварительно запрограммирован с помощью программного обеспечения LsLab для достижения серии измерений при различных температурах.
- Угловой прибор для образцов
Многие гелеобразные образцы, подходящие для рассеяния света, показывают неэргодическое (non - ergodic) поведение, что приводит к ошибкам измерения. Компания LS Instruments разработала угловой анализатор образцов, который позволяет вращать неэргодические образцы с нужной скоростью для получения правильных результатов. Кроме того, угломер образца может быть использован для отклонения образца от центра вращения, что позволяет использовать квадратный пул образцов, где световой диапазон рассеянного света может быть уменьшен до менее 200 микрон, что значительно снижает многократное рассеяние.