Материальный микроскоп Visoria M

Испытайте более высокую эффективность и комфорт в повседневной работе микроскопа. Материальный микроскоп Visoria M используется в металлургической, электронной и полимерной промышленности, а также в лабораториях материаловедения.

Использование функций кодирования, оптимизированных настроек силы света и других микроскопических функций может повысить эффективность вашего рабочего процесса. Кроме того, эргономический дизайн микроскопа позволяет работать более комфортно и минимизировать напряжение.

Эффективное и комфортное выполнение ежедневных операций.

Материальный микроскоп Visoria MПреимущества:

Повышение эффективности посредством кодирования

Повышение эффективности ежедневных микроскопических заданий. Экономия драгоценного времени с помощью функции микроскопа, которая упрощает запись и кодирование документов, позволяет сосредоточиться на образцах.

Использование эргономичного дизайна, более удобное использование

Используйте симметричные элементы управления и эргономичные аксессуары для работы в удобной позе. Эти функции помогают уменьшить напряжение шеи и спины, даже если вы работаете перед микроскопом в течение длительного времени.

Работает с программным обеспечением Enersight Microsographic.

Использование Visoria M Material Microsysics и программной платформы Enersight упрощает и делает рабочий процесс более эффективным.

знатьМатериальный микроскоп Visoria M

Для ежедневной проверки материалов

Используя микроскоп Visoria M Material, вы можете исследовать микроструктуру металлов, сплавов, электронных и механических компонентов, композитов, стекла, керамики и других материалов. В сочетании с программной платформой Enersight вы также можете выполнять анализ сечения или толщины слоя.

Материальный микроскоп Visoria M

Экономия времени с помощью оптимизированных параметров интенсивности света

С Visoria M у вас будет больше времени для наблюдения и проверки образцов. Если вы измените увеличение или способ наблюдения микроскопа, вам не нужно будет вручную регулировать яркость, потому что он имеет функцию управления интенсивностью света. Благодаря функции кодирования микроскопа, настройки освещения будут применяться автоматически.

Наблюдение за образцом в идеальных условиях освещения не требует настройки интенсивности света микроскопа.

Упрощение процесса записи документов

Вам просто нужно нажать кнопку, чтобы быстро захватить детали образца, в то время как глаза продолжают смотреть на изображение. Кнопка сбора изображений на кронштейне микроскопа Visoria M находится в пределах досягаемости.

Когда вы храните изображение для записи в документ, выбранные системные параметры автоматически сохраняются вместе с исходными данными изображения.

Масштаб автоматически корректируется и добавляется в изображение, что повышает эффективность и экономит ваше драгоценное время.

Просто нажмите кнопку на кронштейне микроскопа, чтобы получить изображение, экономя время и усилия.

Легкий микроскоп.

Visoria M работает интуитивно и может выполнять повседневную работу быстро и надежно.

С помощью цветового кодирования легко найти подходящую апертуру для каждого объектива.

Встроенное ограничительное устройство фокусировки защищает образцы и объективы от случайного повреждения.

Чтобы достичь более точной фокусировки при более высоком увеличении, используйте трехступенчатую систему фокусировки - грубую настройку, среднюю настройку, тонкую настройку.

шкала диафрагмы с апертурой

Графики диафрагмы с апертурой на линзах и осях падающего света имеют цветовые метки, соответствующие цветовому коду объектива.

Использование цифрового микроскопа для работы без окуляра

Цифровой материальный микроскоп Visoria M без окуляра имеет ряд практических преимуществ:

Просматривайте изображения прямо на планшете и работайте в удобной и расслабленной позе.

Быстрое представление и запись рабочих шагов, легкое обсуждение результатов изображения с коллегами.

Компьютеры не нужны, экономия рабочего места.

Пользователи работают с цифровым материалом Visoria M.

Удобно работать.

Visoria M может адаптироваться к вашим потребностям, позволяя вам оставаться в правильной позе при длительном использовании микроскопа, снижая риск напряжения шеи и спины.

Ручки управления фокусировкой и погрузчиком имеют симметричную компоновку и регулируемую высоту, поэтому вы можете держать плечи плоскими, а положение рук и рук соответствует эргономике, что позволяет легко и удобно работать. В одной руке можно управлять Visoria M.

Легкое переключение между операциями правой и левой руки особенно полезно при совместном использовании микроскопа с другими пользователями.

При использовании Visoria M пользователи могут оставаться в удобной позе.

Регулирующий микроскоп с использованием эргономических деталей

Благодаря отличной адаптации Visoria M вы можете оставаться в прямой позе. Вы можете выбрать из ряда эргономичных аксессуаров для удовлетворения своих потребностей.

Эргономичный окуляр: можно выбрать антропологический окуляр 15° или регулируемый Variotube (угол наклона 0 - 35°) для поддержания расслабленной позиции головы при получении гибкого угла наблюдения.

Эргономичный угловой модуль окуляра: вставка ErgoModule под окуляр регулирует высоту окуляра и позволяет работать в удобном положении сидения.

Эргономичные регуляторы: Дополнительные регуляторы ErgoLift легко регулируют высоту микроскопа.

Можно гибко регулировать угол и высоту наблюдения окуляра и общую высоту микроскопа.

Уменьшение повторяющихся движений и, следовательно, снижение напряжения

Нужно ли долго работать перед микроскопом?

Использование Visoria M снижает риск физического дискомфорта и повторяющихся травм. Сведение к минимуму повторяющихся действий путем регулирования высоты и крутящего момента несущего стола и элементов управления фокусировкой.

Расположение и ручка фокусировки XY - носителя просты в эксплуатации и могут быть отрегулированы одной рукой.

Представление деталей образца в правильном режиме наблюдения

В области промышленных и материальных испытаний, а также исследований и разработок, использование Visoria M позволяет наблюдать детали структуры и дефектов образца, таких как царапины или загрязнение.

Он использует несколько методов наблюдения, в том числе

Ясное поле

Тёмное поле

Поляризация

Дифференциальная интерференция (DIC)

Наклонное освещение

флуоресценция

В частности, наклонное освещение помогает лучше наблюдать внешний вид поверхности.

Используйте те же изображения включения, которые Visoria M собирает с помощью A) открытого поля, B) темного поля, C) дифференциального интерферометрического контраста и D) наклонного освещения.

Быстрый обзор образцов с использованием макроскопических объективов в 0,7 раза

Когда вам нужно увидеть макроструктуру, вы можете быстро переключиться с обзора образца на наблюдение за крошечными деталями с помощью выбранного макроскопического объектива в 0,7 раза. Он позволяет сразу увидеть область образца диаметром около 36 мм и быстро определить местоположение и обзор. Использование макроскопических объективов может сэкономить время отбора образцов по сравнению с использованием традиционных объективов для обзора образцов.

Вы также можете использовать различные объективы для наблюдения за крошечными деталями образца с более высоким увеличением.

Используйте выбранные макроскопические объективы в 0,7 раза для быстрого обзора образцов, экономя время отбора образцов.

Работает на платформе Enersight.

Использование Visoria M Material Microsysics и программной платформы Enersight упрощает и делает рабочий процесс более эффективным. Он обеспечивает интуитивный интерфейс, который помогает вам беспрепятственно сравнивать, измерять и делиться данными.

Важные преимущества:

Для определения толщины покрытия или слоя используется функция измерения толщины слоя.

Функция XY - сращивания с ручной несущей станцией позволяет наблюдать образцы с большим полем зрения и более высоким разрешением.

Используйте функцию расширения глубины (EDOF) для сбора четких изображений образцов.

Используйте функцию быстрой регулировки яркости для сбора изображений с идеальным освещением и настройками камеры.

Оптимизация изображения путем автоматической коррекции теней, вызванных неравномерным освещением.

Объединение нескольких изображений, полученных различными методами наблюдения, такими как открытое и темное поля, позволяет лучше понять образцы.

Полуавтоматические измерения дают информацию о минимальной, максимальной и средней толщине покрытия или слоя.