Рентгеновский спектрометр XEScope

Рентгеновский спектрометр XEScopeЭто своего рода описательное устройство, которое может количественно и качественно анализировать химическое состояние элементов. Благодаря точным возможностям обнаружения и удобному опыту работы, оно обеспечивает надежную техническую поддержку для многодисциплинарных исследований валентности элементов.

• Сверхвысокая чувствительность: информация о компонентах с низким содержанием (0,1 Вт%) может быть точно захвачена.

· Высокое энергетическое разрешение: 0,5 эВ, точное распознавание сигнала.

• Химическое разрешение состояний: четкое разграничение различных валентных состояний одного и того же элемента (например, Si² + / Si4 +, S² - / S⁶ +), анализ химических свойств.

• Тестирование на месте: изучение механизмов динамической реакции, точное распределение восстановительных компонентов, исходные характеристики изменения химического состояния.

• Широкий диапазон элементов покрытия: может анализироваться от легких элементов (например, Al, Si) до тяжелых элементов (например, U, Pb) для удовлетворения многодисциплинарных потребностей.

• Неразрушающий контроль: без разрушения структуры образца, подходит для анализа ценных / редких образцов.

• Пользовательский интерфейс дружественный: интегрированное программное обеспечение, простое и простое в использовании.

Рентгеновский спектрометр XEScopeОбзор

Фокусируйтесь на информации о состоянии валентности поверхности, совместимой с несколькими образцами

· Точный захват поверхностной информации: ядро фокусируется на составе элементов поверхности образца и химическом состоянии, не требует глубокого проникновения, непосредственно получает ключевые данные поверхностного слоя, подходит для покрытия, пленки и других сценариев поверхностных исследований.

• Многоморфные образцы без порога: совместимы с твердым телом (например, массивным, пластинчатым), жидкостью (например, раствором, эмульсией), порошком и другими формами, не требуют от клиента сложной предварительной обработки, такой как измельчение, растворение и т. Д. Прямое тестирование на борту.

• Низкое количество и низкое содержание дружественных: требования к образцам до 5 мг, микрокристаллы, небольшое количество порошка и другие специальные формы могут быть адаптированы; Поддержка тестирования образцов с оценкой качества 0,1%, широкий диапазон тестирования.

Интегрированное программное обеспечение, точный количественный анализ

• Удобность в эксплуатации: может быть реализован полный процесс упрощения операций от подтверждения условий тестирования до фактического анализа данных без сложных профессиональных операций, дружественный пользовательский интерфейс, минимальная потребность в обучении.

• Интегрированное программное обеспечение: с функциональным * аналитическим программным обеспечением, которое поддерживает автоматическую калибровку энергии, анализ соответствия и количественный анализ, поддерживает массовое тестирование нескольких групп образцов, соответствующих одному и тому же элементу, программное обеспечение может рассчитывать результаты анализа в больших количествах и генерировать стандартизированные отчеты, что значительно повышает эффективность обнаружения.

валентный количественный анализ

• Анализ валентного состояния: использование стандартной выборки для калибровки энергии и количественного смещения валентного состояния позволяет получить информацию о валентном состоянии испытуемого образца

• Пропорциональный анализ: соотношение содержания валентных состояний в тестируемом образце может быть рассчитано путем линейного согласования проб и стандартных образцов

Полностью автоматизированное тестирование, охватывающее широкий спектр элементов

• Автоматическое переключение кристаллов: оснащено функцией автоматического переключения кристаллов и может поставляться с 6 аналитическими кристаллами, которые покрывают энергетический диапазон 1,2 K eV - 5 K eV.

• Широкий охват элементов: может быть реализован валентный анализ широкого спектра элементов с атомными номерами 13 (Al) - 23 (V) и 31 (Ga) - 90 (U), диапазон обнаружения которых в основном включает в себя

13 (Al) - 23 (V) K - спектральные линии, 31 (Ga) - 59 (Pr) L - спектральные линии и 61 (Pm) - 90 (U) M - спектральные линии удовлетворяют разнообразные потребности в обнаружении от легких до тяжелых элементов.

Сопоставление характеристик