КСАНЕС

Спектрометр тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS)КСАНЕССпектроскопические измерения тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS) с использованием обычных рентгеновских источников света хорошо дополняют и расширяют важную научно - техническую инфраструктуру, такую как синхронное излучение, а также научные приборы, такие как электронный микроскоп и рентгеновский дифрактор. В настоящее время продукт был выбран Пекинским университетом, Пекинским университетом аэронавтики и астронавтики, Тяньцзиньским университетом, Северо - Китайским университетом электроэнергетики, Цинхайским университетом, Аньхойским университетом и многими другими университетами, эффективно помогая соответствующим научным исследованиям и прикладному развитию!

Миниатюрная настольная система, простая в использовании:

• Поддержка функции ближнего быстрого сканирования;

Поддержка расширенных функций, таких как тестирование на месте;

· Эргономика Высокий дизайн, более удобная работа;

· Предустановка встроенных экспериментальных параметров для достижения быстрых измерений;

• автоматическое переключение одной кнопки на разные образцы и различные режимы измерения;

· Дистанционная передача данных, отображение экспериментальных процессов и результатов в режиме реального времени для поддержки беспилотных испытаний;

Профессиональная техническая поддержка приложений и поддержка анализа данных;

• Инструменты имеют квалификацию радиационного исключения и многократную защитную блокировку для обеспечения безопасности людей и использования.

Специальные кристаллы XAFS:

· Различные кристаллические поверхности полностью сконфигурированы, чтобы обеспечить покрытие каждого элемента;

• Предварительная прямая установка, т.е.

• Специальные изгибы могут быть настроены по требованию элементов для достижения оптимальной производительности.

Спектрометр тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS)КСАНЕСМеханизм энергетического сканирования:

• Механизмы совместного сканирования;

• обеспечение точной связи источников света, кристаллов, образцов и детекторов;

· Высокая точность и разрешение, хорошая стабильность.