Системы AFM Raman

ДоговариваемыйОбновление на01/31

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Система AFM Raman позволяет осуществлять наблюдение за микропространственной трехмерной морфологией и многофазной структурой образца (на наноуровне) без ущерба для внутренней структуры образца; В то же время можно изучать физико - химические свойства поверхности образца, численное измерение и анализ.

Подробности о продукте

Системы AFM RamanРежим работы:

1. Стандартная модель работы:

1.1 Режим постукивания (vibration mode)

1.2 Контактный режим (Contact mode)

1.3 Фазовый режим изображения (Phase imaging)

Режим поперечной силы (Lateral Force Microscopy LFM)

1.5 Тест на кривую силы (Force Curve) позволяет измерить модуль Янга

Нанометрическое управление (Nanomanipulation)

1.7 Нанометрическое травление (nanolithography)

1.8 Режим матрицы силы (Force Mapping)

Тест на трение (Friction Mode)

2. Альтернативный режим работы:

2.1 Режим магнитного микроскопа (MFM mode)

2.2 Режим электростатического микроскопа (EFM mode)

2.3 Режим проводимого микроскопа (C - AFM mode)

Режим жидкой фазы (Liquid scan mode)

AFMWorkshop - специализированная компания, специализирующаяся на проектировании и производстве атомных микроскопов. Основателем компании является доктор Пол Уэст (Paul West), имеющий 30 - летний опыт работы в области атомного микроскопа и автор учебника Atomic Forces Microscopes.

Системы AFM Ramanтехнические параметры

Диапазон сканирования: 100 мкм, 50 мкм, 15 мкм

Диапазон направления Z: 17 мкм, 7 мкм

Разрешение привода направления XY: 0,01 нм

Разрешение привода по направлению Z: 0003 нм

Измерение уровня шума в направлении Z: 0,15 нм

Размер образца: 25 мм в диаметре

Похожий продукт рекомендовать