Простой атомно - силовой микроскоп

ДоговариваемыйОбновление на01/31

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Простой атомно - силовой микроскоп представляет собой комбинированный с перевернутым оптическим микроскопом микроскоп для изучения образцов биологических материалов и биологических материалов. Это атомно - силовой микроскоп с игольчатым сканированием. Он включает в себя электронные контроллеры, оптическое обнаружение оптических рычагов, оптический микроскоп, программное обеспечение для просмотра положения кончиков игл и образцов, получения результатов изображения и последующей обработки. Система имеет обратный микроскоп для определения местоположения образца на оси XY атомного силового микроскопа. Стол для образцов подходит для чашки Петри, несущего стекла и стандартного стенда для образцов AFM.

Подробности о продукте

Простой атомно - силовой микроскопРежим работы:

1. Стандартная модель работы:

1.1 Режим постукивания (vibration mode)

1.2 Контактный режим (Contact mode)

1.3 Фазовый режим изображения (Phase imaging)

Режим поперечной силы (Lateral Force Microscopy LFM)

1.5 Тест на кривую силы (Force Curve) позволяет измерить модуль Янга

Нанометрическое управление (Nanomanipulation)

1.7 Нанометрическое травление (nanolithography)

1.8 Режим матрицы силы (Force Mapping)

Тест на трение (Friction Mode)

2. Альтернативный режим работы:

2.1 Режим магнитного микроскопа (MFM mode)

2.2 Режим электростатического микроскопа (EFM mode)

2.3 Режим проводимого микроскопа (C - AFM mode)

Режим жидкой фазы (Liquid scan mode)

AFMWorkshop - специализированная компания, специализирующаяся на проектировании и производстве атомных микроскопов. Основателем компании является доктор Пол Уэст (Paul West), имеющий 30 - летний опыт работы в области атомного микроскопа и автор учебника Atomic Forces Microscopes.

Простой атомно - силовой микроскоптехнические параметры

Диапазон сканирования: 100 мкм, 50 мкм, 15 мкм

Диапазон направления Z: 17 мкм, 7 мкм

Разрешение привода направления XY: 0,01 нм

Разрешение привода по направлению Z: 0003 нм

Измерение уровня шума в направлении Z: 0,15 нм

Размер образца: 25 мм в диаметре

Похожий продукт рекомендовать