Добро пожаловать Клиент!

Членство

Помощь

Shanghai Nateng Instrument Co., Ltd
Заказчик производитель

Основные продукты:

instrumentb2b> >Продукты

Shanghai Nateng Instrument Co., Ltd

  • Электронная почта

  • Телефон

  • Адрес

    Шанхайский район Сюйхуэй, Линлин Роуд, 599, комната 707.

Свяжитесь сейчас

трехмерный профилограф свободной поверхности

ДоговариваемыйОбновление на05/06
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения

Обзор

Оптические элементы со свободной поверхностью 3D - профилографа детектора свободной поверхности $r $n применяются к передним областям, таким как интеллектуальное отображение автомобиля, AR - дисплей, объектив мобильного телефона, лазерное отображение, освещение, литография и т. Д., Трехмерный профилограф свободной поверхности детектор, способный бесконтактно измерять трехмерные поверхностные данные оптических зеркальных элементов, проводить трехмерный анализ контура и трехмерное сравнение ошибок, а также генерировать отчеты измерений, содержащие несколько показателей погрешности поверхности. От разработки продукта до производственного процесса и контроля качества, эта независимая система может быть использована для разработки передовых процессов проектирования, обработки и тестирования оптического дизайна, интеллектуальных производственных процессов и процессов контроля качества на заднем плане.

Подробности о продукте

трехмерный профилограф свободной поверхности

преимущество

• Бесконтактные измерения полного калибра поверхности различных оптических элементов со свободной поверхностью

Простые, точные, быстрые и повторяющиеся способы измерения, поверхность не требует опыления

• Автоматическое завершение ошибок анализа сравнения данных *, функция трехмерного анализа

Измерительная функция

измерение трехмерных профилей

• Обратный поверхностный анализ

Оценка точности профиля

Применимый объект

Отражения со свободной поверхностью, стекло с изогнутой крышкой, прецизионные формы, стеклянные панели, линзы, массивы микролинз, Кристаллические пластины и т.д.

Принцип измерения

трехмерный профилограф свободной поверхностиПринцип трехмерной реконструкции структурного отражения света: Многокамерная съемка деформированного структурированного светового рисунка, отраженного измеренной зеркальной поверхностью, путем реконструкцииАлгоритм вычисляет трехмерную поверхность измеренной поверхности и получает погрешность формы свободной поверхности путем сравнения с данными идеальной поверхностиМатериалы и другие аналитические данные

Обеспечение высокой точности измерений с использованием оптимизированных конструкций систем, методов высокоточной калибровки и * алгоритмов реконструирования

自由曲面三维面型检测仪自由曲面三维面型检测仪

отБольшие зеркала диаметром 600 мм, до массива микролинз диаметром 1 мм, система измерения свободной поверхности обеспечивает полную мощность измерения поверхности.

Программное обеспечение для измерения и анализа

Программное обеспечение для трехмерных измерений и анализа с богатыми аналитическими функциями и простой в использовании, включая: Ошибка трехмерного контура фотоэлектрическиеАРМСПоверхностьНедостатки, кривизна, наклон, анализ размеров, различные полиномиальные аппроксимации, пространственная фильтрация и различные типы проводников данныхвыход

自由曲面三维面型检测仪

自由曲面三维面型检测仪

трехмерный профилограф свободной поверхности