Рентгеновский толщиномер

ДоговариваемыйОбновление на10/07

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Микроскопический анализатор толщины покрытия XRF и материалов для быстрого контроля качества и проверки точности данных за считанные секунды

Подробности о продукте

Микроскопический анализатор толщины покрытия XRF и материалов, облегчающий быстрый контроль качества и проверку, позволяет получить точные данные за считанные секунды.

Анализ толщины покрытия и материалов на основе X - флуоресценции является широко признанным аналитическим методом в отрасли, который обеспечивает простой в использовании, быстрый и неразрушающий анализ, практически не требующий подготовки образцов и способный анализировать твердые или жидкие образцы на периодической таблице элементов от 13Al до 92U.

приложение

Обработка поверхностей PCB / PWB

Способность управлять процессом обработки поверхности определяет качество, надежность и срок службы линейной платы. Толщина гальванического покрытия и структура компонентов измеряются в соответствии с IPC 4556 и IPC 4552. Аналитические приборы Hitachi помогают вам продолжать работу в строго контролируемых пределах, обеспечивая высокое качество и избегая дорогостоящей переработки.

Гальванизация электрических и электронных компонентов

Детали должны быть гальванизированы в пределах спецификации для достижения ожидаемых электрических, механических и экологических характеристик. Продукты серии X - Strata и MAXXXI с прорезями могут измерять небольшие образцы или непрерывные полосы, достигая таким образом контроля толщины верхнего и среднего предварительного покрытия в раме выводов (раме выводов), разъемных разъемах, проводах и зажимах.

Комплект IC

Полупроводниковые приборы становятся все более компактными и сложными и требуют аналитического оборудования для измерения их пленки в небольших районах. Анализатор прибора Nikkei Analytics предназначен для обеспечения высокоточного анализа и повторяющихся данных для приложений, необходимых клиентам.

Процессы производства сервисной электроники (EMS, ECS)

В сочетании с закупками и местными компонентами и несколькими испытательными точками, связанными с продукцией, для достижения от проверки входа на завод до управления процессом производственной линии, а затем окончательного контроля качества. Продукция XRF Microcochere Analytics помогает анализировать компоненты, сварочные материалы и конечные продукты по всей производственной цепочке, обеспечивая качество на каждом этапе.

Фотоэлектрические продукты

Спрос на возобновляемые источники энергии растет, и фотоэлектричество играет важную роль в сборе солнечной энергии. Способность эффективно собирать эту энергию частично зависит от качества тонкопленочных солнечных элементов. Микросхема XRF помогает обеспечить точность и последовательность покрытия этих батарей, обеспечивая максимальную эффективность.

Ограниченные материалы и скрининг высокой надежности

Сотрудничество со сложными глобальными цепочками поставок имеет решающее значение для проверки и проверки материалов, полученных от поставщиков. Используя технологию XRF для аналитических приборов Hitachi, мы проверяем, соответствует ли поставка нормативным требованиям, таким как RoHS и ELV, в соответствии с методологией IEC 62321, чтобы гарантировать, что высоконадежное покрытие используется в авиационной и военной областях.

Похожий продукт рекомендовать