Интерферометр Mahr MarSurf WI

ДоговариваемыйОбновление на10/07

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Серия MarSurfWI - это новейшая разработка Mahr оптического 3D - профилографа поверхности, прибора для измерения субнанометровых поверхностей различных прецизионных устройств и материалов.

Подробности о продукте

Серия MarSurf WI - это новейшая разработка Mahr для оптических 3D - профилографов поверхности, приборов для измерения субнанометровых поверхностей различных прецизионных устройств и материалов. Это метод интерферометрии белого света в качестве принципа, в сочетании с прецизионным Z - направленным сканирующим модулем, алгоритмом 3D - моделирования и другими бесконтактными сканированиями поверхности устройства и созданием 3D - изображений поверхности, обработкой и анализом данных 3D - изображений поверхности устройства с помощью системного программного обеспечения, а также получением 2D - и 3D - параметров, отражающих качество поверхности устройства, чтобы реализовать оптический детектор 3D - измерения формы поверхности устройства.

Оптический 3D - контур поверхности MarSurf WI может быть широко использован в производстве полупроводников и технологии упаковки, 3C электронных стеклянных экранов и их прецизионных деталей, оптической обработки, микронаноматериалов и производства, автомобильных деталей, устройств MEMS и других сверхточных обрабатывающих отраслях, а также в аэрокосмической промышленности, оборонной промышленности, научно - исследовательских институтах и других областях. Можно измерить все виды поверхностей объектов от сверхгладкой до грубой, низкой отражающей до высокой отражающей, шероховатости, выравнивания, микрогеометрических профилей, кривизны и т. Д. От нанометровых до микрометровых деталей, обеспечивая в общей сложности более 300 видов 2D и 3D параметров в соответствии с четырьмя основными внутренними и внешними стандартами ISO / ASME / EUR / GBT в качестве стандарта оценки.

Проект прикладных испытаний: измерение и анализ плоскости, шероховатости, гофрированности, профиля поверхности, дефекта поверхности, износа, коррозии, пористого зазора, высоты ступеней, деформации изгиба, обработки и других поверхностных морфологических характеристик поверхности различных продуктов, компонентов и материалов.

Производство полупроводников (уменьшение шероховатости, контур лазерного канала)

Оптические компоненты. Кривизна & размер контура & шероховатость

3С электрон (стеклянный экран). шероховатость

Похожий продукт рекомендовать