Новый настольный трехмерный рентгеновский микроскоп

Новый настольный трехмерный рентгеновский микроскопX4 Посейдон

X4 POSEIDON - это превосходная трехмерная рентгеновская система с высоким разрешением, основанная на успехе наших престижных систем SKYSCAN 1272 и SKYSCAN 1275.

Модульное аппаратное и ориентированное на пользователя программное обеспечение X4 POSEIDON отвечает потребностям любой аналитической задачи. Благодаря своей флагманской технологии система обеспечивает эффективный баланс между полем зрения, увеличением и скоростью - скорость сканирования, как молния, с широким охватом и различием характеристик до 2 мкм.

X4 POSEIDON сочетает в себе два детектора и является историческим многоугольным настольным трехмерным рентгеновским микроскопом. Наши лучшие алгоритмы сбора и GEM Plus ™ Функция обеспечивает отличный сбор каждого набора трехмерных изображений.

X4 POSEIDON - это доступная входная система с простыми и понятными рабочими процессами, интуитивным пользовательским интерфейсом и многоязычной поддержкой, которая обеспечивает простоту использования.

X4 POSEIDON требует только стандартного питания и лабораторных рабочих столов, которые можно установить в любой лаборатории, чтобы обеспечить высококачественные, неразрушающие трехмерные изображения для всех и повсюду!

Особенности:

I. Модульная настольная компьютерная система, устойчивое развитие

X4 POSEIDON представляет собой модульный рентгеновский настольный микроскоп. Инструмент может быть модернизирован в соответствии с различными потребностями и легко интегрирован с новыми компонентами по мере развития технологии.

X4 POSEIDON - это комплексное решение для микрокомпьютерной томографии с множеством расширенных функций для улучшения пользовательского опыта.

Базовая конфигурация X4 POSEIDON включает в себя полноценный источник отраженных рентгеновских лучей и многофункциональный плоский детектор. Благодаря этим компонентам система может выполнять сверхбыстрое сканирование с отличным полем зрения и резким контрастом без ущерба для разрешения.

Независимо от того, поддерживает ли ваша лаборатория несколько пользователей в различных областях исследований и разработок или поддерживает определенные промышленные процессы, X4 POSEIDON предлагает полный спектр функций неразрушающего, качественного и количественного трехмерного анализа.

II.GEM Plus ™： Отличная гибкость изображения.

X4 POSEIDON сочетает в себе хорошую технологию сканирования - геометрии и многомерного поля зрения с улучшенным режимом геометрического увеличения (GEM Plus). ™） Гибкость настольных компьютеровА.

Баланс между полем зрения и разрешением может быть достигнут путем перемещения образца ближе к источнику света или к детектору. Используя хорошую геометрию сканирования, детектор также может двигаться непрерывно, чтобы при достижении одинакового увеличения использовать идеальный конический луч для заданного размера образца, тем самым значительно увеличивая скорость сканирования

GEM Plus ™ На основе Multi - Vision и Best - Scan - Geometry был достигнут баланс между чистым разрешением, скоростью сканирования и углом поля зренияА.

III.Многополюсная: технология с двумя детекторами для быстрого 3D - изображения с высоким разрешением

X4 POSEIDON - это действительно многодетекторное настольное решение XRM. Он может быть оснащен многофункциональным плоским детектором, научным CMOS - детектором или и тем, и другим.Эй!

При выборе идеального детектора, отвечающего вашим потребностям, вы должны учитывать баланс между углом поля зрения, разрешением и скоростью сканирования. Если скорость в приоритете, то плоский детектор идеально подходит для вашего приложения. С другой стороны, детекторы SCMOS идеально подходят для достижения высокого разрешения.

С X4 POSEIDON вам больше не придется выбирать - благодаря функции Multi - Vision вы можете получить и то, и другое.Эй!

Платформа X4 POSEIDON позволяет перейти на Multi - Vision.

IV.Мощные рентгеновские возможности.

X4 Poseidon поддерживает новое поколение микрофокусных рентгеновских источников. По мере изменения спроса платформа позволяет заменять источники света на месте.

Ци Высокоэнергетический отраженный рентгеновский источник

1) Отражающие рентгеновские источники генерируют энергию рентгеновского луча до 100 кВ и мощность 20 Вт. Этот промышленный источник является отличным выбором для многопользовательских, лабораторных или скрининговых работ. Он не нуждается в обслуживании и имеет низкую стоимость владения.

ЦиИсточник рентгеновского излучения с микрофокусировкой

2) Световое пятно пропускающего рентгеновского источника размером 2 мкм является исследовательским решением для получения данных с высоким разрешением. Энергия 110 кВ расширяет область применения до образцов с более высокой плотностью и большими размерами.

ЦиГарантия 3D разрешения.

3) Каждый трехмерный рентгеновский микроскоп Брука имеет гарантию трехмерного разрешения. Во время заводской калибровки производительность разрешений 2D и 3D была протестирована и задокументирована с использованием стандартных отраслевых моделей JIMA 2D и 3D QRM. После установки производительность на месте обеспечивается путем повторения измерений 2D JIMA.

V.Повышение производительности и пропускной способности

В X4 POSEIDON предусмотрен 15 - битный автоматический пробоотборник, который позволяет значительно увеличить использование прибора и сократить работу оператора.

Компактный автоматический пробоотборник расположен перед прибором и соответствует эргономическим принципам. Состояние каждой позиции отображается светодиодными индикаторами, которые могут добавлять или заменять образцы в любое время, даже во время работы. Умный алгоритм загрузки оптимизирует пропускную способность образца.

В каждом месте можно разместить образцы диаметром 50 мм и высотой 80 мм. Небольшие образцы могут складываться вертикально и связываться вместе, чтобы увеличить емкость.

При неиспользовании автоматический пробоотборник не требует демонтажа, не влияет на вход в прибор, загрузку больших образцов или специальных платформ.

VI. 4D - CT: отличная интеграция

Увеличение пропускной способности за счет мощности источника, эффективности скорости детектора, переменной геометрии и усовершенствованного режима сканирования открывает новые возможности для экспериментов 4D - КТ на месте с использованием проприетарных специальных платформ для испытаний на сжатие, растяжение и температурные тесты, не связанные с окружающей средой. Все платформы интегрированы в программное и аппаратное обеспечение без дополнительного кабеля. Интерфейсы внутри корпуса позволяют использовать индивидуальные или сторонние платформы.

Технические характеристики:

Примеры применения:

Геология: глубинный трехмерный анализ кернов

Наночастотный трехмерный рентгеновский микроскоп X4 POSEIDON позволяет точно отображать такие параметры, как пористость, размер частиц, трещины, аномальные характеристики геологических образцов, а также поддерживает исследования динамических процессов. В этом примере применения в качестве примера приводится небольшая пробка из песчаника, демонстрирующая возможности применения рентгеновского трехмерного микроскопа (XRM) в области наук о Земле.

Производство присадок: микроструктурная оценка 3D - печатных аэрокосмических компонентов

Воздушно - космическая область имеет более высокие требования к физическим характеристикам материалов и компонентов, не только требует высокой прочности, устойчивости к деформации и легких характеристик, но, что более важно, имеет более высокую надежность. Такие высокопроизводительные компоненты обычно изготавливаются с использованием технологии 3D - печати, которая обеспечивает тонкое регулирование микроструктуры материала.

Наночастотный трехмерный рентгеновский микроскоп X4 POSEIDON является идеальным инструментом для проверки качества и структурной целостности 3D - печатных материалов. В этом примере применения мы демонстрируем передовое применение в области аддитивного производства, анализируя 3D - печатный титановый шар, используемый в космической среде.

Фармацевтическая промышленность: обнаружение капсул с твердыми микрочастицами

Рентгеновский микроскоп широко используется на этапах контроля качества и исследований и разработок в фармацевтической промышленности. С помощью трехмерного рентгеновского микроскопа X4 POSEIDON нанометрового класса можно провести тонкое внутреннее обнаружение капсульных препаратов с твердой оболочкой - не только для визуализации отдельных микрочастиц, но и для визуализации пористой структуры внутри частиц.

В данном случае применения, мы протестировали твердые капсулы, заполненные микрочастицами, чтобы продемонстрировать передовое применение этой технологии в фармацевтической области и дополнительные возможности.

Область хранения энергии: трехмерное изображение газодиффузионного слоя топливных элементов

Топливные элементы с протонной мембраной (PEMFC) - это класс, который обладаетПерспективная технология топливных элементов, ее важная структура состоит из нескольких слоистых компонентов, которые складываются друг с другом.

Этот пример применения демонстрирует преимущества трехмерного рентгеновского микроскопа X4 POSEIDON (XRM) в формировании изображений сложных многослойных систем, таких как PEMFC, даже для получения точного изображения одного пучка углеродного волокна.

Контроль качества: тонкое трехмерное изображение объектива камеры смартфона

Наночастотный трехмерный рентгеновский микроскоп X4 POSEIDON оптимизирован для высокоскоростного сканирования и наблюдения с большим полем зрения, что делает его идеальной системой для визуализации стека объективов камеры в высокопроизводительной среде.

В этом случае мы показываем анализ контроля качества объектива камеры смартфона - полное время визуализации занимает всего две минуты.

Композитные материалы: исследование внутренней структуры армированных углеродным волокном пластмасс (CFRP)

Углеродный волокнистый армированный пластик (CFRP) из - за его сложной внутренней структуры является отличным материалом, который сочетает в себе легкость, высокую жесткость и высокую прочность на растяжение.

В данном случае трехмерный рентгеновский микроскоп X4 POSEIDON нанометрового класса используется для получения неразрушающей трехмерной визуализации CFRP, обеспечивая ключевую техническую поддержку для разработки таких высокопроизводительных материалов.

Область электроники: трехмерный визуальный анализ электронных чипов

С помощью трехмерного рентгеновского микроскопа X4 POSEIDON даже очень сложные электронные компоненты могут создавать трехмерные изображения без потерь - будь то исследования и разработки, контроль качества, анализ отказов или другие сценарии применения.

Этот пример применения демонстрирует передовые возможности применения технологии в области электроники посредством трехмерной визуализации электронных чипов (включая внутреннюю структурную визуализацию и анализ толщины структуры).

Наука о продуктах питания: оценка надувности выпечки

Наночастотный трехмерный рентгеновский микроскоп X4 POSEIDON может использоваться для анализа внутренней структуры продуктов питания, таких как выпечка, и измерения таких ключевых параметров, как надувность и распределение компонентов.

В данном случае применения мы использовали шоколадное печенье « Pepernoot» в качестве примера для визуального анализа его надувной структуры с помощью технологии объемного рендеринга (цветовое кодирование по размеру отверстия).