PDF - 4 Axiom - Упрощенная версия базы данных PDF - 5 +

область применения

PDF - 4 Axiom - Упрощенная версия базы данных PDF - 5 +Стандартная дифракционная карта для включенных фаз охватывает около различных областей научных исследований, таких какБатарейные материалы, термоэлектрические материалы, сверхпроводящие материалы, металлические материалы, керамические материалы, минеральные материалы, металлические сплавы, лекарства, полимерыИ так далее. База данных PDF являетсяМатериаловедение, физика, химия, геология, фармакология, биология, инспекция и карантин, судебная экспертизаБазы данных необходимые в таких областях как научные исследования и промышленное производство.

База данных о сотрудничестве

ICDD порошки (00) –Международный центр дифракционных данных (International Centre for DiffractionData)

ICSD (01) –Fachinformationszentrum Karlsruhe (FIZ) (Международная база данных кристаллических структур)

NIST (03) –National Institute of Standards and Technology, (База данных Национального института стандартов и технологий США)

MPDS (04) –MaterialPhases Data System, Linus Pauling File (LPF, файл Лайнуса Полинга)

ICDD Single Crystal Data (05) -Международный центр дифракционных данных (InternationalCentre for Diffraction Data)

Обзор

Физическая идентификация + количественный анализ

База данных ICDD - PDF - 4 Axiom, содержащая как данные о дифракции порошка, так и данные о монокристаллической структуре, предоставляет полный спектр дифракционных данных для оптимизированной версии базы данных PDF - 5 +.

• Срок действия лицензии 3 года, более высокая рентабельность;

• 110800 + Набор специальных дифракционных данных;

• 80700 + Набор содержит атомные координаты местоположения;

• Содержит общие данные о неорганических и органических веществах;

• Содержит первичные данные по всем минералам;

• Включает программное обеспечение для поиска данных;

• Одноразовый заказ на 3, 6, 9 лет лицензии;

• Дополнительное разрешение, цена лучше;

• Больше вариантов: автономная версия, мультимашинная версия.

Режим поиска

PDF - 4 Axiom - Упрощенная версия базы данных PDF - 5 +Поддерживает более 80 методов поиска по фазе объекта, таких как область исследования, источник данных, качество данных, периодическая таблица элементов, пространственная группа, кристаллические параметры, имена соединений, дифракционные данные, физические свойства материала и справочная литература, чтобы облегчить пользователям быстрый и точный поиск, идентификационную фазу.

1. Области исследований, источники данных, качество данных, периодическая таблица элементов

2. Химический релевантный поиск

3. Поиск по категориям, функциональным группам

4. Кристаллографические параметры, поиск космических групп

5. Поиск дифракционных данных

6. Поиск ссылок

7. Поиск номера карты PDF

Стандартная дифракционная карта PDF - 4 Axiom предоставляет обычную информацию о фазах

Уникальная дифракционная карта PDF - 4 Axiom совместима с PDF - 5 + и доступна на каждой картеБолее 130 видовИнформация, пользователи могут быстро и легко понять общий обзор материала.

1.Номер карточки PDF

Каждая PDF - карта имеет свой собственный номер, и каждая PDF - карта соответствует определенной фазе. Номер карты PDF состоит из трех наборов данных с девятью цифрами, XX-XXX-XXXX， Например, карточка PDF сверхпроводника на основе железа KFe2Se2 имеет номер 00 - 063 - 0202, в котором 00 указывает источник данных, эта карта взята из базы данных дифракции порошка ICDD, 063 указывает на том 63, который включен, а 0202 указывает номер, соответствующий этой карточке PDF.

2. Длина дифракционной волны

В PDF - 4 + пользователи могут выбрать рентгеновскую дифракционную мишень Cu, Fe, Mo, Co, Cr, Mn, Ag и пользовательскую длину волны, которая также содержит нейтронную дифракцию (фиксированную длину волны и данные TOF нейтронов) и электронные дифракционные данные.

3. Дифракционные данные, относительная прочность дифракционных пиков, d - I - (hkl) список

Интенсивность пиковой интенсивности на картах PDF нормализована до 1000, а все остальные дифракционные интенсивности являются относительными дифракционными; Три сильные линии соответствуют значению d между плоскостями кристалла для жирного шрифта.

В картах PDF - 4 прочность дифракции делится на прочность фиксированной щели (Fixed SlitIntensity), переменную прочность щели (Variable Slit Intensity) и интегральную дифракционную прочность (Integrated);

Если значение относительной прочности I имеет суффикс m, относительная дифракционная прочность, указывающая на существование других кристаллических пиков дифракции, равна относительной дифракционной прочности этих пиков.

В качестве примера можно привести соединение KFe2Se2 с номером карточки PDF 00 - 063 - 0202, в котором содержится следующая информация:

Базовая информация о фазах в PDF - картах

Базовая информация о фазах вещей на PDF - картах состоит в основном из следующих моментов:

1. Состояние PDF - карт (Status)Существует три типа: Primary, Alternate и Deleted.

ПервичныйКак правило, это свидетельствует о хорошем качестве данных, содержащихся в PDF - картах, и дифракционных данных при комнатной температуре;

Альтернативный- Одна из PDF - карт в нескольких PDF - картах того или иного материала не обязательно указывает на плохое качество PDF - карт;

УдаленоЭта PDF - карта содержит данные, которые в настоящее время не исправлены и удалены из текущей базы данных PDF. Тем не менее, карта все еще доступна для поиска, что облегчает пользователям ссылку на данные. Как правило, PDF - карты, обозначенные как « Deleted», будут иметь более качественные PDF - карты вместо « Deleted» PDF - карт.

Маркировка качества PDF - карт (Quality Mark)， Карты PDF, публикуемые ICDD, маркируются по всему миру как качественные для всех включенных данных, и каждая из них подвергается обзору, редактированию и стандартизации на разных уровнях редактирования. Если одно и то же изделие имеет относительно несколько PDF - карт, обычно рекомендуется выбрать карту с более высоким уровнем маркировки качества.Марка качестваКонкретные определения каждого знака качества в этом номере могут быть сосредоточены на других профессиональных статьях.

3. Температура и давление при сборе карты. Стоит отметить, что в процессе фазирования необходимо выбрать температуру и давление, соответствующие эксперименту. В противном случае структура идентификации может быть неправильной.

4. Химическая формула фазы, структурная формула, отношение атомов к весу, общее английское название, название минерала, номер IMA, номер CAS, время записи и т.д.

Экспериментальные условия, используемые при сборе PDF - карт (Experimental)

В основном включают длину волны рентгеновского излучения, фильтр, радиус камеры, внутреннюю метку, значение d, интенсивность и другую информацию.

Физические кристаллические данные (Physical, Crystal)

В основном включает в себя кристаллическую систему, пространственную группу, параметры ячейки, объем ячейки, количество химических единиц Z, плотность, F - фактор, эталонную прочность RIR - значение I / Ic, R - фактор и другую информацию.

Как правило, если коэффициент F превышает 15, диаграмма XRD фазы считается более достоверной.

2. Параметрная прочность I / Ic представляет собой интегральное соотношение прочности между подлежащим измерению соединением и пиком прочности образцового корунда при весе образца 1: 1. Длина волны рентгеновского излучения влияет на значение I / Ic, и большинство карт PDF собираются с использованием источника рентгеновского излучения Cu K α1 (15406 A). Если в эксперименте используются рентгеновские источники на других длинах волн, то при анализе относительного содержания фаз необходимо уделять особое внимание длине волны, используемой для сбора этой PDF - карты, когда значение I / Ic на этой PDF - карте может перестать иметь справочную ценность. Если PDF - карта соответствует структурным данным, можно теоретически вычислить конкретное значение фазы I / Ic при различных длинах волн с помощью стандарта JADE или программного обеспечения JADE Pro.

Монокристаллические структурные данные (Structure)

В основном включают кристаллические параметры, симметричные операции пространственной группы, атомные координаты, информацию о занятии, температурный фактор и другую информацию.

Категории, соответствующие предметам (classifications)

В основном включает в себя субобласти, к которым они принадлежат, классификацию руды, прототипы кристаллической структуры и другую информацию.

Похожие PDF - карты с перекрестными ссылками (Cross - Reference)

Показывать базовую информацию о серии PDF - карт, которые могут быть перекрестно цитированы с текущей картой PDF, и указывать состояние перекрестно - цитируемой карты PDF (Primary, Alternate, or Deleted) или дифракционную карту перекрестно - цитируемой карты PDF, которая имеет « корреляционную фазу» с текущей картой PDF, « корреляционную фазу», которая означает, что оба имеют одну и ту же пространственную группу и молекулярную формулу и что их отношение к химическому измерению может немного измениться.

10. Справочная литература (Reference)

В основном отображается библиографическая информация, на которую ссылаются текущие PDF - карты, а количество ссылок на различные PDF - карты варьируется.

11. Редакционные комментарии (Comments)

В основном отображается комментарий к текущей карте PDF, комментарий от вкладчика карты или редактора ICDD, как правило, содержит основную информацию о методах синтеза образцов, условиях дифракционной записи и т. Д., Если текущая карта PDF имеет плохое качество, редактор также укажет причину. Многие люди часто игнорируют эту информацию при использовании PDF - карт. Во многих случаях редактирование комментариев в PDF - картах содержит критически важную информацию о фазе, которая часто помогает пользователям делать вторичные суждения при поиске фазы.

Стандартные дифракционные карты PDF - 4 предоставляют информацию о фазах характеристик (только базы данных серии PDF - 4)

Карты серии PDF - 4, в дополнение ко всему, что содержит традиционные карты PDF - 2, добавляют ряд дополнительных функций, включая экспериментальный дифракционный спектр чистой фазы материала, спектр дифракции электронов / нейтронов, двумерный порошковый дифракционный спектр (2D - XRD), спектр дифракции высоких и низких температур, спектр дифракции исходного высокого давления, структурную информацию, длинный угол связи, дифракцию электронов избирательного округа (SAED), спектр дифракции электронного обратного рассеяния (EBSD) и другую информацию.

Серия температур (Temperature Series)

База данных серии PDF - 4 содержит данные о высококриогенной дифракции на месте некоторых фаз, и с помощью данных дифракции при различных температурах можно легко найти свойства теплового расширения материала, фазовые переходы и т. Д. В качестве примера можно привести карту PDF с номером 00 - 046 - 1045 SiO2, в базе данных PDF - 4 + указан диапазон температурных изменений от 10 до 1813K.

Набор инструментов (Toolbox)

В функциональной области Toolbox пользователь может настроить длину волны в соответствии с требованиями, чтобы рассчитать пиковое положение фазы, индекс Миллера, расстояние между кристаллами, угол кристаллической поверхности и другую информацию.

Файл физико - химических свойств (Property Sheet)

В базе данных серии PDF - 4 некоторые карты PDF (например, материалы батареи, материалы ионных проводников, материалы для хранения водорода, полупроводниковые материалы и т. Д.) содержат файлы физических свойств (Property Sheet), которые отображают дополнительную информацию о фазе в виде документа, например, материалы батареи и материалы ионных проводников содержат данные о электропроводности. Пользователь может нажать на значок Property Sheet, который автоматически создаст документ, в котором будут показаны основные физические свойства фазы объекта, в основном в текстовом и графическом форматах, с соответствующими ссылками.

В качестве примера можно привести монокристаллическую Ge с номером карты PDF 00 - 004 - 0545, документация по основным физическим свойствам фаз, добавленных в ее Property Sheet, показана на рисунке ниже:

Схема 2D или 3D структуры

Для органических веществ, как правило, на PDF - картах отображается двухмерная (2D) структурная схема; Для неорганических объектов, как правило, на PDF - картах отображается трехмерная (3D) структурная схема и динамическая схема; Для некоторых фаз PDF - карты содержат как 2D, так и 3D структурные схемы. Атомы C и H обычно представлены в виде опущенных в схемах 2D - структуры, но когда атомы C и H неоднозначны, карта PDF специально помечает их в 2D - структуре. Пользователь может нажать на значок 2D / 3D, чтобы показать схему структуры 2D или 3D фазы объекта.

В качестве примера возьмем C17H12N2O4 с номером карты PDF 02 - 094 - 1952, нажмите на значок 2D / 3D, схема структуры 2D / 3D показана ниже, где 3D - структура представляет собой динамическую диаграмму, и этот пример показывает только сечение одной из статических диаграмм:

5.Информация о углу длинных клавиш (Bonds)

В базе данных серии PDF - 4 представлена подробная информация о длине связи, углу связи, атомных координатах, симметрии, расстоянии между кристаллами, атомном распределении и т. Д. Фазы.

6. Дифракция электронов в избирательных округах (SAED)

Возьмем, к примеру, электронную дифракционную карту избирательного округа (SAED) с номером карты PDF 00 - 065 - 0110 Ag3S (NO3).

Дифракция рассеяния электронов на спине (EBSD)

8. Двумерное кольцо Дебая

В базе данных серии PDF - 4 представлена спектральная карта двухмерного (2D) дифракционного кольца (Ring) фазы вещества, которая представляет собой аналоговую диаграмму, предполагающую, что детектор находится в середине геометрии пропускания падающего луча и что объект, подлежащий измерению, представляет собой микрокристаллическую частицу со случайной ориентацией.

Моделирование диаграмм XRD и экспериментов XRD в чистой фазе

В базе данных серии PDF - 4 представлены аналоговые дифракционные диаграммы фаз (Simulated Profile) и экспериментальные дифракционные спектры чистой фазы (Raw DiffractionData). Номер карточки PDF 00 - 063 - 0202.

Пример сверхпроводника на основе железа KFe2Se2:

База данных PDF - 4 Axiom 2025Вы также можете напрямую импортировать другие часто используемые поисковые программы, такие как JADE Pro или JADE Standard, EVA, Highscore и т. Д. Для достижения действительно бесшовной связи и предоставления необходимой помощи в ваших исследованиях!