Сканирующий электронный микроскоп SU3500

Сканирующий электронный микроскоп SU3500

Высококачественная вольфрамовая проволока сканирует зеркала, качество изображения еще больше.

Благодаря высокому качеству изображения, чтобы улучшить аналитическую способность и работоспособность сканирующих зеркал, объединить передовые технологии Японии. Сканирующие зеркала на вольфрамовой проволоке SU3500 оснащены новой электронно - оптической системой с разрешением 7 нм при ускоренном напряжении 3 кВ, « функцией стереоскопического наблюдения в реальном времени» * 1 для стереоизображения в реальном времени и « UVD сверхчувствительный детектор переменного давления» * 1 с более высокой эффективностью обнаружения, который предлагает новые стандарты для наблюдения и анализа.

* 1: Выбрать себя

особенность

Более высокое разрешение при наблюдении при низком напряжении ускорения позволяет лучше наблюдать тонкую форму поверхности образца и более эффективно уменьшать повреждение образца

Новые электронные оптические системы и технологии обработки сигналов обеспечивают высокоскоростное сканирование и малошумные наблюдения

По сравнению с обычным сканирующим электронным микроскопом * 2 автоматическая функция сокращается * 3 на 11 секунд

« UVD» (сверхчувствительный детектор переменного давления) с тонкой формой, которая позволяет очень хорошо наблюдать поверхность образца в условиях низкого вакуума * 4

4. Функция "стереоскопического наблюдения в реальном времени", обеспечивающая получение стереоизображений в реальном времени * 4

* 2 по сравнению с японским SEM S - 3400N

* 3: Время меняется в зависимости от условий наблюдения

* 4: Выбрать себя

спецификация