Сканирующий зондовый микроскоп

Сканирующий зондовый микроскопЭто профессиональный атомный силовой микроскоп с уровнем шума ниже 35 пим по оси Z. Это оборудование позволяет осуществлять наблюдение за микрообластями, трехмерной формой и многофазной структурой образца без ущерба для внутренней структуры образца; В то же время можно изучать физико - химические свойства поверхности образца, численное измерение и анализ.

Атомный силовой микроскоп HR - AFM отечественного производства

Стандартный режим работы: режим постукивания (Vibration mode), режим контакта (Contact mode), режим фазового изображения (Phase imaging), режим поперечной силы (LFM), тест кривой силы (Force Curve), наноманипуляция (Nanomanipulation), наногравирование (Nanolithography), режим матрицы силы (Force Mapping), тест на трение (Friction Mode)

Альтернативный режим работы: проводимый атомный силовой микроскоп (C - AFM), магнитный микроскоп (MFM), статический электрический микроскоп (EFM), сканирующий потенциальный микроскоп (SKPM).

Сканирующий зондовый микроскопИмеет функцию автоматического ввода программного обеспечения. Автоматическая подача зонда с помощью программного управления двигателем Z - направления

Сканер с разделением по трем осям X, Y, Z

Диапазон сканирования 100 × 100 × 17 мкм

Разрешение оси Z 0035 нм

Размер стенда для образцов: 25 мм * 25 мм * 18 мм

Операционное программное обеспечение: управление языком среды Laview, бесплатное предоставление операционного программного обеспечения, а также техническое обслуживание и обновление

Системы анализа данных Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE

Оптическое разрешение системы верхнего обзора 2 мкм

Диапазон поля зрения от 2 мм * 2 мм до 300um * 300um регулируемый, увеличение от 45 до 400 раз механически регулируемый

Система бокового обзора, обеспечивающая визуализацию нисходящей иглы, может точно наблюдать за процессом нисходящей иглы с помощью компьютера, чтобы предотвратить столкновение