Добро пожаловать Клиент!

Членство

А

Помощь

А
Шанхайская компания прецизионных электромеханических
ЮйЗаказчик производитель

Основные продукты:

instrumentb2b> >Продукты
Категории продукта

Шанхайская компания прецизионных электромеханических

  • Электронная почта

  • Телефон

    18017373226

  • Адрес

    2515 Pudong Avenue, новый район Пудун, Шанхай

АСвяжитесь сейчас

Английский бесконтактный морфолометр Taylor Hobson

ДоговариваемыйОбновление на12/31
Модель
Природа производителя
Производители
Категория продукта
Место происхождения

Обзор

TAYLOR HOBSON: бесконтактный морфолометр CCI Lite использует интерференционный принцип CCI (алгоритм когерентной корреляции кирпичной технологии), который позволяет с высокой точностью измерять внешний вид поверхности, шероховатость поверхности, трехмерные и двумерные размеры, обнаруживать и анализировать дефекты поверхности и генерировать статистические отчеты

Подробности о продукте

Бесконтактный морфолометр Taylor Hobson, Великобритания: бесконтактный морфолометр CCI Lite использует интерференционный принцип CCI (алгоритм корреляции когерентности кирпича), который позволяет с высокой точностью измерять внешний вид поверхности, шероховатость поверхности, трехмерные и двумерные размеры, обнаруживать и анализировать дефекты поверхности и генерировать статистические отчеты;
Бесконтактный внешний вид Taylor Hobson:
1. Амортизационный фундамент и стойка:
Литой алюминиевый фундамент:: В сочетании с аэродинамической амортизацией для повышения стабильности измерений и точности повторения
Стойка стальной конструкции:: Повышение прочности и стабильности измерительных контуров, снижение воздействия внешних вибраций
2. Параметры системы
(1)Тип вмешательства:CCIинтерференция, алгоритм корреляции Кирпича Тейлора Хопсона
(2)Измерительный диапазон:2.2mm(Стандарт), > 10 мм используется сращивание данных
(3)Разрешение:0.1 A
(4) РМСПовторяемость:<0.02nm
(5)Скорость вертикального сканирования: 7 м / с
(6)Количество измерений:1 1024 x 1024Матрица
(7) X YДиапазон однократных измерений оси: 0,36 - 7,2 мм
(8) X YРазрешение оси:0.4-0.6um
(9)Повторность высоты ступенек: > 0,1%
(10)Системный шум:<0.08nm
(11)Время измерения: Типичный образец 5 - 20 секунд
(12) Отражение измеряемого предмета:0,3 - 100%