универсальный рентгеновский абсорбционный спектрометр

ДоговариваемыйОбновление на02/09

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Универсальный рентгеновский абсорбционный спектрометр SuperXAFS H3000 от National Creative Scientificator обеспечивает элементную специфичность и локальный структурный анализ без разрушения образцов, обнаруживая окружающую среду и валентные состояния атомов, особенно для изучения микромеханизмов, которые трудно решить с помощью традиционных методов представления, таких как XRD и SEM. Его применение проходит через множество областей от фундаментальной науки до промышленной практики и становится ключевым инструментом для соединения структур атомного масштаба с макроскопическими свойствами.

Подробности о продукте

Государственный научно - исследовательский приборуниверсальный рентгеновский абсорбционный спектрометрСуперXAFS H3000

Основные параметры

1. Режим работы: поддержка функции ближнего быстрого сканирования; Поддержка спектра поглощения в режиме пропускания / флуоресценции

2. Энергетический диапазон: 4.5 - 20kev, с возможностью обновления до 25kev

3. Поток света в пробах: 4×10⁶фотоны/с @7-9 keV

4. Энергетическое разрешение: 0.5-1.5eV@7-9keV

5. Энергетическое повторение: 30meV@24h

Точность регулирующего механизма: минимальный шаг сканирования энергии 0,1эВ

Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS / XES) - это неразрушающая технология, используемая для изучения локальной структуры материала и состояния электронов. Эта технология использует взаимодействие рентгеновских лучей с веществом для получения спектра ближнего поглощения (XANES) определенных элементов, расширенного спектра дальнего поглощения (EXAFS) и спектра эмиссии конкретных энергетических зон, соответственно, для анализа химического состояния и валентности элементов, структуры распределения локальной среды вокруг атомов и скрининга классов атомов распределения измеренных элементов, что является важным средством представления микроструктуры распределения кристаллических и аморфных материалов. XAFS / XES в основном используется в анализе валентности, конфигурации и электронного состояния ионов металлов в катализаторах, сплавах, керамике, загрязнителях окружающей среды, различных кристаллических и аморфных материалах и биологических образцах, а также в исследованиях динамической эволюции локальной структуры материала в тепловом поле, оптическом поле, электрическом поле и магнитном поле.

Области применения рентгеновского абсорбционного спектрометра

Катализаторные исследования

Анализ валентности металлов в активных центрах катализатора (например, Pt²)А/ ПтАКоординирующая среда и расстояние между атомами, раскрывающие механизм каталитической реакции (например, активность восстановления кислорода катализатора топливного элемента).

Отслеживать структурную эволюцию катализатора в реакции (например, изменение валентного состояния катализатора на основе Cu в реакции окисления CO).

Наноматериалы

Определение распределения атомов на поверхности и концентрации дефектов наночастиц (таких как квантовые точки, нанооксиды) (например, TiO)ДиКислород в нанотрубках).

Изучение электронных структур интерфейса нанокомпозитов (например, перенос заряда графена - металлических наночастиц).

Функциональный анализ материалов

Обнаружение электродных материалов батарей (например, LiCoO)Ди) Изменение валентного состояния элемента во время литиевой вставки / удаления оптимизирует производительность батареи.

Анализ магнитных материалов (например, Fe)АОБ) Локальная магнитная среда, объясняющая механизм магнитной упорядоченности.

Похожий продукт рекомендовать