Рентгеновский микроскоп Xradia 410 Versa

Рентгеновский микроскоп Xradia 410 VersaУстранение разрыва между высокопроизводительным рентгеновским микроскопом и слабофункциональной системой компьютерной томографии (КТ). Xradia 410 Versa предлагает неразрушающие 3D - изображения с отличным разрешением, контрастностью и функциями на месте, что позволяет проводить прорывные исследования по широкому спектру * образцов. Использование этого мощного и экономичного « основного » решения для улучшения рабочих процессов визуализации даже в различных лабораторных средах
Гибкие размеры образцов и типы промышленных мощностей 4D и на месте
Рентгеновский микроскоп Xradia 410 Versa обеспечивает экономичную и гибкую 3D - визуализацию, которая позволяет обрабатывать различные образцы и исследовательские среды. Со временем неразрушающие рентгеновские изображения могут сохранить и расширить диапазон использования ваших ценных образцов. Этот прибор обеспечивает реальное пространственное разрешение 0,9 мкм, * малодостижимые габаритные размеры 100 нм. Усовершенствованное поглощение и фазовый контраст (для мягких или низкоZ - материалов) предоставляют вам больше возможностей для преодоления ограничений традиционных методов компьютерной томографии (промышленной КТ).
Решения Xradia Versa расширяют научные исследования, выходящие за рамки проекционных микрон - и нано - систем КТ. Традиционная томография опирается на одноступенчатое увеличение, а Xradia 410 Versa использует двухэтапный процесс на основе синхротронно - калибровой оптической системы. Он прост в использовании и имеет гибкую контрастность. Разрешение дальнего прорыва (RaaD) позволяет поддерживать субмикронное разрешение широкого диапазона размеров образца как в оригинальной среде, так и на различных полевых буровых установках. Функция неразрушающей многодлинной шкалы позволяет визуализировать один и тот же образец при различных коэффициентах усиления, что может указывать на эволюцию микроструктурных характеристик материала (на месте) между непрерывной обработкой (4D) или под воздействием имитируемых условий окружающей среды.
Кроме того, система управления Scout - and - Scan обеспечивает высокоэффективную рабочую среду с помощью настроек, основанных на формуле, что делает Xradia 410 Versa удобной для пользователей с различными уровнями опыта.
　　Рентгеновский микроскоп Xradia 410 Versaпреимущество
Архитектура Xradia Versa использует двухуровневую технологию усиления, которая позволяет достичь разрешения на расстоянии (RaaD). Как и в случае с традиционным миниатюрным КТ, изображение образца усиливается геометрическим увеличением. На втором этапе сцинтиллятор преобразует рентгеновские лучи в видимый свет, а затем оптическое увеличение. Уменьшение зависимости от геометрического усиления позволяет прибору Xradia Versa поддерживать разрешение в субмикронах на больших рабочих расстояниях. Это позволяет эффективно изучать * широкий спектр образцов, в том числе в помещении на месте.
Неразрушающие 3D - изображения для сохранения и расширения использования ценных образцов
Высокое пространственное разрешение до < 0,9 мкм, размер теломеров до 100 нм
Продвинутые сравнительные решения для материалов с низким Z и мягких тканей
Функция 4D и исходного положения в отрасли для гибкой выборки и типов
Система управления Scout - and - Scan, простая в использовании настройка рабочего процесса, идеально подходит для многопользовательской среды
Перегрузка контрольно - измерительных стендов и расширение источника и станции зондирования
:: Минимальная потребность в подготовке образцов
Простая навигация с помощью нескольких систем контроля усиления.
Непрерывная работа с помощью автоматической многоточечной томографии и повторного сканирования