Электронный микроскоп с полевым сканированием серии ZEISS GeminiSEM

Электронный микроскоп с полевым сканированием серии ZEISS GeminiSEMЭлектронный микроскоп с сканированием излучения с высокой контрастностью и низким напряжением обладает отличной эффективностью обнаружения и может легко реализовать изображения с субнанометровым разрешением. Как в условиях высокого вакуума, так и в режиме переменного давления, более высокая чувствительность к информации о деталях поверхности дает вам большую гибкость при визуализации и анализе любого образца, предоставляя гибкие и надежные технологии и схемы электронного микроскопа с полевым сканированием для получения четких и реалистичных изображений различных типов образцов в микромире в исследованиях материаловедения, исследованиях в области наук о жизни, промышленных лабораториях или на микроскопических платформах.

ИспользованиеЭлектронный микроскоп с полевым сканированием серии ZEISS GeminiSEMСерия продуктов, которые вы можете легко получить отличные изображения и надежные результаты анализа любого образца в реальном мире GeminisEy 500 с отличным разрешением, все еще дает вам более мощные сигналы и более подробную информацию при низком напряжении ускорения, инновационный режим переменного давления NanoVP

Это даже дает вам ощущение работы в высоковакуумном режиме во время использования: GeminiSEM 450 обладает отличным дизайном простых в использовании деталей, более быстрой реакцией и более звуковой поверхностной чувствительностью, что позволяет быстро, гибко и надежно визуализировать и анализировать образцы в качестве вашего правого помощника;

GeminiSEM 300 с превосходным разрешением, более высокой футеровкой и большим и не искаженным полем зрения позволяет легко выбирать параметры среды, такие как вакуум, подходящий для образца, что позволяет новичкам FESEM быстро освоиться;