Электронный микроскоп с полевым сканированием ZEISS Sigma

ZEISS Sigma Полевой сканирующий электронный микроскоп для высококачественной визуализации и анализа захоронений

Гибкое обнаружение, аналитические характеристики 4 - ступенчатого рабочего процесса

Аналитические характеристики сочетаются с технологией сканирования полевой эмиссии с использованием зрелых электронных оптических элементов Gemin. Множество детекторов необязательно: для получения изображений частиц, поверхностей или наноструктур. Полуавтоматический 4 - ступенчатый рабочий процесс Sigma экономит много времени: настройка этапов визуализации и анализа для повышения эффективности.

Цены на Sigma 300 высоки. В Sigma 500 установлены геометрические детекторы обратного рассеяния, которые позволяют быстро и легко проводить фундаментальный анализ. В любое время любой образец может получить точный повторяющийся аналитический узел.

Ли

Свяжитесь с ZAIS прямо сейчас, чтобы узнать больше о продуктах серии Siqma!

Гибкие параметры детектора для получения четких изображений

Используя новые детекторы ETSE и Inlens для получения информации о форме поверхности с высоким разрешением в высоком вакууме,

Используйте детекторы VPSE или C2D для получения четкого изображения в режиме переменного давления.

Используйте детектор aSTEM для получения изображений с высоким разрешением.

Анализ компонентов с помощью детекторов HDBSD или YAG.

Дружелюбный пользователь, простая операция

SmartSEM Touch является дополнением к существующей операционной системе для многопользовательской среды и представляет собой простой пользовательский интерфейс, который обеспечивает простые операции как для опытных, так и для младших пользователей.

Основываясь на реальной лабораторной среде, работа SEM может быть специализированной областью для экспертов по электронной микроскопии. Тем не менее, непрофессиональным пользователям (например, студентам, недавно обученным людям или инженерам по качеству) также необходимо использовать SEM для получения данных, и поэтому существует потребность в использовании SEM. Sigma 300 и Sigma300 VP учитывают потребности непрофессиональных пользователей, а их пользовательский интерфейс отвечает потребностям опытных специалистов по микроскопии и новых пользователей микроскопа.

особенности:

Электронный микроскоп с полевым сканированием ZEISS Sigma для гибкого обнаружения четких изображений

Используйте передовые методы обнаружения, чтобы сделать Siqma для ваших нужд и показать все образцы

Получение информации о форме и составе с помощью двойного детектора in - lens.

Используйте вторичные детекторы нового поколения для получения до 50% сигнальных изображений. Инновационные детекторы C2D и переменного давления Siama в режиме переменного давления позволяют получать изображения с контрастностью до 85% в условиях низкого вакуума.